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本申请公开了一种半导体结构的制备方法、半导体结构及电子设备,涉及半导体领域。该方法包括:在衬底上制备呈阵列分布的晶体管,每个晶体管包含沿垂直衬底方向延伸的硅柱;任意相邻的硅柱之间包括顶部水平面超过硅柱的第一硅介质,第一硅介质与每个硅柱之间形成多个第一腔体;在各第一腔体内形成与硅柱连接的第一导电触点。通过制备硅柱和第一硅介质形成第一腔体,从而填充第一导电材料形成第一导电触点,提高了导电触点的制备稳定性,降低导电触点的短路风险。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN118076104A
(43)申请公布日2024.05.24
(21)申请号202410218253.X
(22)申请日2024.02.28
(71)申请人北京超弦存储器研究院
地址10
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