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本发明提供一种直臂式探针及测试装置，直臂式探针包括中直臂其两端分别设有上接触臂与下接触臂，上接触臂端部适于与待测芯片电连接，所述下接触臂端部始于与测试电路板电连接；中直臂与所述上接触臂之间设有上折弯端，所述中直臂与所述下接触臂之间设有下折弯端，上折弯端与所述下折弯端向第一方向弯曲；其中，所述上接触臂和/或下接触臂具有在外力作用下向所述中直臂方向挤压，以使所述上折弯端、所述下折弯端向第一方向弯曲的测试状态；在所述测试状态前，所述中直臂被配置为向第二方向弯曲，以使在测试状态下，所述中直臂向第二方向弯
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN118091216A
(43)申请公布日2024.05.28
(21)申请号202410210685.6
(22)申请日2024.02.27
(71)申请人苏州微飞半导体有限公司
地址2
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