瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质.pdfVIP

瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质.pdf

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本申请提供一种瑕疵检测方法、装置、电子设备及存储介质。该方法包括:对极片进行扫描以得到极片图像;对极片图像进行灰度投影以得到投影曲线;根据投影曲线,确定由极片图像中满足预设极性条件和预设相对距离条件的边缘线段围成的待检测区域;根据待检测区域中与预设尺寸的卷积模板中每个对应位置的像素点的灰度值差值,确定灰度值差值大于第一预设阈值的多个候选瑕疵像素点;确定由多个候选瑕疵像素点连接得到的至少一个第一候选瑕疵区域;根据第二预设阈值,分别对每个第一候选瑕疵区域进行全局阈值分割以确定至少一个第二候选瑕疵区域

(19)国家知识产权局

(12)发明专利申请

(10)申请公布号CN117952986A

(43)申请公布日2024.04.30

(21)申请号202410356249.X

(22)申请日2024.03.27

(71)申请人远景睿泰动力技术

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