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一种芯片测试机构.pdfVIP

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  • 2024-05-29 发布于四川
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一种芯片测试机构.pdf

    本发明涉及一种芯片测试机构，属于芯片测试技术领域。为解决现有测试机构在测试芯片时，存在接触阻抗变化大，信号失真的问题。本申请包括测试插座和若干个测试探针，测试插座上设有放置芯片的凹槽，测试插座的内部设有用于安装测试探针的安装槽，安装槽的一端与凹槽相联通，形成第一出口，另一端贯穿测试插座，形成第二出口；测试探针的针体安装于安装槽，且其一端延伸至第一出口外，构成弹性测试端，另一端延伸至第二出口外，构成连接端；测试插座安装在测试板上，测试探针的连接端与测试板相接触。本申请在测试时能保证接触阻值稳定性，

    (19)国家知识产权局

    (12)发明专利申请

    (10)申请公布号CN118091372A

    (43)申请公布日2024.05.28

    (21)申请号202410371978.2

    (22)申请日2024.03.29

    (71)申请人苏州微缜电子科技有限公司

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