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- 2024-05-29 发布于四川
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本发明涉及半导体制造技术领域,特别涉及一种晶圆清洗装置及晶圆清洗方法。通过喷淋装置和清洗装置的结合,一边对晶圆进行清洗液的喷淋,一边对晶圆进行刷洗,实现晶圆正面和边缘的高效和高质量清洗,大幅降低减少清洗时间、提高清洗效率,降低加工和处理成本。同时,晶圆通过旋转吸附控制装置竖直设置于清洗处理腔内,喷淋到晶圆表面的清洗液在重力的作用下自动的向下运动,同时带动污染物向下运动,最后离开晶圆表面或者在晶圆下方聚集,从而更加有效的去除晶圆表面的污染物,提高清洗效率。并且,晶圆清洗装置在使用时,整合清洗工序,
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN118080406A
(43)申请公布日2024.05.28
(21)申请号202410189383.5B08B13/00(2006.01)
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