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本发明涉及超滤技术领域，特别是涉及一种基于库贝尔卡‑蒙克理论监测膜污染的荧光校正方法，包括以下步骤，S1采用前表面三维荧光光法检测超滤膜，获得初始荧光数据；S2使用便携式分光光度计检测超滤膜，获得漫反射数据；S3将漫反射数据转换为库贝尔卡‑蒙克理论函数，计算总缓解系数；S4利用总缓解系数计算修正函数；S5将初始荧光数据除以修正函数得到校正后的荧光数据。本发明采用上述技术方案，用于校正吸收和散射以获得真实的荧光光谱，提升了膜污染表征的精度，解决了现有技术中荧光检测不准确的问题。
(19)国家知识产权局
(12)发明专利申请
(10)申请公布号CN118090760A
(43)申请公布日2024.05.28
(21)申请号202410414624.1G06F17/10(2006.01)
(22)申请日2024.04.
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