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单片射频微波集成电路技术与设计MMICC测试技术图文.docx

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    探针台测试技术优点电子科技大学1.单扫系统从DC到120GHz；2.更准确且可重复性，引入的系统误差小；3.校准程序更简洁，在片校准及标准验证可自动化；4.它使VNA测试参考面位于探针尖上或在沿MMIC传输线一段距离上,从而可完全消退参考面转换的影响；5.供给了快速、无破坏MMIC性能测量方法，可以在切片和封装之前进展性能测量。CascadeMicrotech和Agilent两公司已合作供给了一整套在片测试解决方案，在高达110GHz频率实现了可重复的频域测试。11

    10.2测试方法电子科技大学?????搭建平

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