雷达综合智能测试技术.pdfVIP

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信息技术与信息化

雷达综合智能测试技术

Integratedintelligenttestingtechnologyfo,Radar

莫军杨志谦

MOJunYANGZhi—Qian

雷达测试技术在现代雷达系统中占有重要的地位,能够提高装备故障诊断精确性、缩短诊断时间、

降低维修保障成本,从而提高装备的完好率,对雷达装备提高使用效率起到非常重要的作用。文

中分别对机内测试和脱机测试作了阐述,并对自动测试系统的架构和工作原理进行了分析。

测试适配器数字I/0边界扫描

AbstractRadartestingtechnologyoccupiesanimportantpositioninmodemRadarsystems,withincreasingthe

accuracyoffaultdiagnosis,deceasingthediagnosistimeandreducingcostofmaintenance,itimprovestheequipment

availabilityandplaysavitalroleinincreasingserviceefficiencyofRadarequipments.Inthisletter,onandofflinetests

arespecifiedrespectively,alsothestructureandprincipleofanautomatictestingsystemareanalyzed.

KeywordstestadapterdigitI/Oboundaryscan

doi:10.3969~.issn.1672—9528.2015.1.80

1引言成、高速度、高密度电子设计技术。采用先进的计算机技术、

测试技术与故障诊断技术构建自动测试系统,实现雷达装

雷达测试技术在现代雷达系统中占有重要的地位。备测试,维修保障综合化,可有效提高维修保障效率[3114],

雷达测试分为机内测试与脱机测试。机内测试是利用雷达使雷达装备处于良好的战时与备战状态,是保持与迅速恢

BIT(buih—in—test,机内自检)技术1,由雷达自身提供BIT复战斗力的重要手段。目前这一趋势已成为雷达全寿命周

信息,主要用于雷达工作时检查、测试和记录雷达系统性期中不可或缺的重要组成部分。

能,监视雷达运行时各个阶段的故障状况,以便用户如实目前雷达测试的内容和范围具有广泛性。测试可以在

掌握雷达系统的工作情况。脱机测试是利用自动测试系统元器件/芯片级、电路板级到功能单元、子系统级、系统

(ATS,AutomaticTestSystem)对雷达进行测试,并对测级等不同级别进行;可以对雷达发射信号参数、雷达接收

试结果进行故障推理2【】。机性能参数和雷达系统性能等不同方面进行测试;还可以

BIT的测试能力要求BIT设备具有发送激励、响应回对特殊雷达体制所要求的性能指标,如雷达接收机的灵敏

收及智能分析能力,这需要为全系统和各个分系统甚至个度、角跟踪特性、导弹制导指令通道、接收机多普勒频率

别部件增加大量软硬件,这意味着系统可靠性的降低,使覆盖范围以及测量雷达对于高速目标的测量精度等技术参

得系统更加复杂,使用和维护更加困难,并且BIT是建立数进行测试。

在BIT设备无故障的前提下实现测试能力的,一旦BIT设

备发生故障,将导致虚警、无法检测和诊断。对于BIT无2自动测试系统的构成与原理

法检测出的故障点必须采用机外ATS测试。ATS具有开放

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