基于叶绿素荧光成像的杂草机械与化学复合损伤胁迫研究.pdf

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摘要

目前,机械与化学损伤是进行杂草防控的主要方式。运用叶绿素荧光(CF)技

术无损的监测杂草的胁迫生理状态,解释其荧光参数变化,揭示杂草生理响应规律,

并进行台架试验验证,这对于揭示机械、化学胁迫以及复合胁迫的损伤机理并进行有

效的杂草防控意义重大。主要的研究内容与结论如下:

(1)在模拟真实田间环境条件下,将不同种类与叶龄杂草(马唐2-5叶龄、飞蓬

5-10)1~724h

叶龄进行实

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