半导体工艺实验.docx

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微机电系统课程试验之一

集成电路根本制造工艺试验

《微机电系统》课程组编写

电子科技机械电子工程学院

2023年3月

试验名称:集成电路根本制造技术工艺试验

一、试验目的

生疏集成电路根本制造工艺的一般步骤。

把握集成电路根本制造工艺各个步骤的要求。会计算方块电阻。

生疏温度掌握、溶液配比要求等根本工艺参数。

二、试验原理

集成电路根本制造工艺建立在一些已经成熟的工艺步骤根底上,为了了解其生产过程,下面我们就了解这些工艺步骤。根本的工艺步骤是:氧化层生长、热集中、光刻、离子注入、淀积〔蒸发〕和刻蚀等步骤。

〔一〕氧化

氧化是在硅片外表生长一层二氧化硅〔SO〕膜的过程。这层膜的

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