SPC管理规定完整版.doc

1、目的

在相关的过程使用控制图和计算过程能力指数，保证过程具有能力，从而防止缺陷的产生。

2、范围

合用于控制计划中规定的过程。

3、定义

3.1-R图：均值和极差图

3.2Ppk：初始能力指数

3.3Cpk：过程能力指数

3.45M1E：人员、机器、材料、方法、环境及测量

4、职责

4.1技术开发部在控制计划中规定使用控制图的过程，品保部进行过程的初始研究，计算Ppk值。

4.2品保部负责控制图（如-R图或P图）的使用和Cpk值的计算。

4.3人力资源处负责控制图的相关使用人员的培训。

5、内容

5.1说明

本作业指导书规定使用的控制图特指-R图。其它控制图的使用方法参见《记录过程控制（SPC）》参考手册。

5.2控制图格式

采用美国三大汽车公司之标准格式，见—R控制图，若有客户规定期，则采用客户的规定格式。

5.3描绘控制图的具体环节

5.3.1收集数据

5.3.1.1选择子组大小、频率和数据

子组大小

本公司的-R图的子组大小为2~5，即每次连续抽2~5个产品。

子组频率

按控制计划规定。

子组数的大小

一般情况下，为25组以上。

5.3.1.2建立控制图及记录原始数据。

由控制图使用者将相关的日期/时间/读数/均值（）/极差（R）等记录于-R控制图中。

5.3.1.3计算每个子组的均值（）和极差（R）

按下列公式计算，并将结果记录于-R控制图中的相关栏位。

，n为子组的样本容量R=X最大值–X最小值

5.3.1.4选择控制图的刻度

对于图，坐标上的刻度值的最大值与最小值之差应至少为子组均值（）最大值与最小值差的2倍。

对于R图，刻度值应从最低值为0开始到最大值之间的差值为初始阶段所碰到的最大极差（R）的2倍。

5.3.1.5将均值和极差R画到控制图上。

5.3.2计算控制限

5.3.2.1计算平均极差（）及过程平均值（）

K为子组的数量

5.3.2.2计算控制限

UCLR=D4UCL=+A2

LCLR=D3LCL=-A2

式中之D4、D3及A2为常数，见-R控制图。

5.3.2.3画控制线

在平均值（）和极差图（R）中用水平虚线将各自的控制限画上去，在初始研究阶段，这些控制限叫实验控制限。

5.4过程控制解释

5.4.1分析极差图（R图）上的数据点

a、超过控制限的点——出现一个或多个点超过任何一个控制限，是该点处在失控状态的重要证据。由于在只存在普通因素引起变差的情况下，超过控制限的点会很少，我们便假设该超过的是由于特殊因素导致的。因此，任何超过控制限的点是立即进行分析、找出存在的特殊因素点的信号。

超过极差上控制限的点通常说明存在下列情况中的一种或几种：

? 控制限计算错误或描点时描错；

? 零件间的变化性或分布的宽度已经增大（即变坏），? 这种增大可以发生在某个时间点上，? 也也许是整个趋势的一部分；

? 测量系统变化（例如，? 不同? 的检查员或量具）；

? 测量系统没有适当的分辨力。

有一点位于控制限之下（对于样本容量大于等于7的情况），说明存在下列情况的一种或几种：

? 控制限或描点错误；

? 分布的宽度变小（即变好）

? 测量系统已改变（涉及数据编辑或变换）

b、链—有下列现象之一表白过程已改变或出现这种趋势：

? 连续7点位于平均值的一侧；

? 连续7点上升（后点等于或大于前点）或下降；

高于平均极差的链或上升链说明存在下列情况之一或所有：

? 输出值的分布宽度增长，? 其因素也许是无规律的（例如设备? 工作不? 正常或固定松动）或是由于过程中的某个要素变化（例如，? 使用新的不? 是很一致的原材料），? 这些都是常见的问题，? 需要纠正；

? 测量系统改变（例如，? 新的检查员或量具）

低于平均极差的链，或下降链表白存在下列情况之一或所有：

? 输出值分布宽度减小，? 这经常是一个好状态，? 应研究以便推广应用和改善过程；

? 测量系统改变，? 这样会遮掩过程真实性能的变化。

注：当子组数（n）变得更小（5或更小）时，低于的链的也许性增长，则8点或更多点组成的链才干表白过程变差减少。

c、明显的非随机图形：

各点与的距离：一般地，大约2／3的描点应落在控制限的中间三分之一的区域内，大约1／3的点落在其外的三分之二的区域。

假如显著多于2／3以上的描点落在离很近之处（对于25个子组，假如超过90％的点落在控制限三分之一的区域），则应对于下列情况的一种或更多进行调查：

? 控制限或描点已计算错或描错；

? 过程或取样方法被分层；每个子组系统化包含了从两个或多个具