点阵常数测定课件.pptVIP

4.4点阵常数的测定方法v主要内容：v1、原理v2、德拜－谢乐法的系统误差v3、德拜－谢乐法的误差校正方法v4、点阵常数计算举例v5、衍射仪精确测定点阵常数

4.4.1原理点阵参数是晶体物质的重要参数，它随物质的化学成分和外界条件（温度和压力）而变化。在金属与合金材料的研究过程中所涉及到的许多理论和实际应用问题，如晶体物质的键合能、密度、热膨胀、固溶体类型、固溶度、固态相变、宏观应力等都与点阵常数变化密切相关。

测量衍射图相上各条衍射线的位置2θ值，然后利用布拉格方程和各个晶系的面间距公式，求出该晶体的点阵常数。（对立方晶系）

在衍射花样中，通过每一条衍射线都可以计算出一个点阵常数，而理论上每个晶体的点阵常数只能有一个固定值。要考虑测量误差。干涉指数是整数，波长在衍射测量中是固定不变的，所以点阵常数的精确度主要取决于sinθ.

由布拉格方程2dsinθ＝λ微分得出：vλ看作常数,则对立方晶系而言当△θ一定，点阵常数的相对误差△a/a与cotθ成正比。

如果衍射线条的θ角趋近于90°，则误差将趋于0，点阵常数的精度较高。所以，实验过程中，使θ60°的区域出现尽可能多的衍射线，并使最大θ角的衍射线尽可能靠近90°。

4.4.2德拜－谢乐法的系统误差v德拜－谢乐法用于点阵常数精确测定系统误差主要有:v（1）相机半径误差；v（2）底片伸缩误差；v（3）试样偏心误差；v（4）试样对x射线的吸收误差；v（5）x射线折射误差

相机半径误差相机半径误差和底片收缩误差

v如果相机半径的准确值为R，由于误差的存在，实际半径为R＋△R,对于底片上间距为S`的一对衍射线，其表现的φ值vφ＝S’/4（R＋△R）而φ＝S’/4R表现真实v因此，φ的测量误差是由于△R很小，故△φ＝－φ（△R/R)R

底片伸缩误差照相底片经冲洗、干燥以后会发生变形，由于底片收缩或伸长造成的误差为：在实验工作中，采用不对称装片或反装法可以降低收缩误差。

试样偏心误差：由于机械加工精度而造成的试样架转动轴与圆筒底片中心轴的不完全重合试样偏心位移分解为x方向和y方向的分量

垂直位移△y使衍射线对位置的相对变化为A→C，B→D。当△y很小时，AC和BD近乎相等，因此可以认为垂直位移不会在S’中产生误差。

水平位移△x的存在，使衍射线条位置的相对变化为A→C，B→D。于是，S’的误差为AC+BD=2DB≈2PN＝2△xsin2φ

因此，试样偏心导致的误差为：于是，a的相对误差为：

吸收误差对于一个调整好中心位置的高吸收试样，吸收误差相当于试样水平偏离所造成的误差，所以，因吸收而引起的误差可包括到试样偏心误差中

x射线折射误差X射线从一种介质进入另一种介质时，也会发生折射现象。在高精度测量过程中，必须对布拉格方程进行校正，以消除折射误差。经校正以后的布拉格方程为：

用校正折射的布拉格方程，计算d时，观察d观察d校正，对立方晶系，点阵常数的折射校正公式可以近似地表达为：

4.4.3德拜－谢乐法的误差校正方法1、采用精密实验技术（P73自学）2、外推法消除系统误差3、柯亨最小二乘法

图解外推法v根据德拜－谢乐法中相机半径误差、底片伸缩误差、试样偏心误差、试样对x射线的吸收误差的讨论得出综合误差：

由于于是在背散射区，当θ接近90°，φ很小，运用近似关系sinφ≈φ，cosφ＝1

在同一张底片中，由于每一条衍射线的各种误差来源相同，因而上式括弧内数值为定值，设为常数K，因此：由上式可见，面间距d的相对误差和成正比，当趋近于零或θ趋近于90°时，上述综合误差即趋于零。

可以用图解外推法求得立方晶系的精确点阵常数a。0a=a±bcosθ20b——常数如果以cosθ为自变量，a为因变量，上式为一直线2方程。根据各条衍射线测得的θ带入计算点阵常数，然后作a与的图解，并外推到＝0。

具体作法，以点阵常数a为纵坐标，坐标作图为横

满足以下条件，才能得出较好的结果：1）在θ＝60°∽90°之间有数目多、分布均匀的衍射线；2）至少有一条衍射线在80°以上。

柯亨最小二乘法

在实验点中可以画出两条正负误差大体相等的直线

充分的条件应该是：各测量值的误差平方和应该最小，即上式即为最小二乘法的基本公式，利用它可以准确地确定直线的位置或待测量的直线。

最小二乘法求直线方程方法：若已知两个物理量x和y呈直线关系，即y=a+bx，假设实验测量的各物理量对应的数值为：xy、xy、······xy,运用最小二乘法可1122nn以求得最佳直线截距a和斜率b。

方法如下：测量值最小误差的平方和表达式：依最小二乘法原理，最佳直线是使误差的平方和为最小的直线，使为最小值的条件是：整理后得：

把上式从新排列：此方程组称为正则方