(正式版)BT 13181-2024 固体闪烁体性能测量方法.docxVIP

ICS27.120.01

CCSF80

中华人民共和国国家标准

GB/T13181—2024

代替GB/T13181—2002

固体闪烁体性能测量方法

Methodsofperformancemeasurementforsolidscintilators

2024-05-28发布

2024-12-01实施

国家市场监督管理总局

国家标准化管理委员会

发布

I

GB/T13181—2024

目次

前言 V

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语、定义和缩略语 1

3.1术语和定义 1

3.2缩略语 4

4通则 5

4.1测量环境条件 5

4.2测量系统 5

4.3测量要求 6

4.4安全要求 7

5相对光输出 7

5.1脉冲法(全吸收峰法或康普顿分布边缘法) 7

5.2电流法 8

5.3封装闪烁体的光输出 9

5.4光输出不均匀性 9

6相对能量转换效率 13

6.1脉冲法(全吸收峰法或康普顿分布边缘法) 13

6.2电流法 13

7a-β比 14

7.1测量原理 14

7.2测量装置 14

7.3测量步骤 14

7.4数据处理 14

8固有脉冲幅度分辨率 15

8.1测量原理 15

8.2测量装置 15

8.3测量步骤 15

8.4数据处理 16

8.5封装闪烁体的固有脉冲幅度分辨率 16

9闪烁光衰减长度 16

9.1对待测闪烁体的要求 16

9.2测量原理 16

Ⅱ

GB/T13181—2024

9.3测量装置 17

9.4脉冲法 17

9.5电流法 17

9.6其他说明 18

10发射光谱 18

10.1测量的波长范围 18

10.2测量原理 18

10.3测量装置 18

10.4测量步骤 19

10.5数据处理 20

10.6其他测量方法 20

11时间特性 20

11.1闪烁衰减时间 20

11.2余辉 24

11.3符合分辨时间 25

12辐照硬度 27

12.1测量原理 27

12.2测量装置 27

12.3测量步骤 27

12.4数据处理 27

13自身放射性水平 28

13.1测量原理 28

13.2测量装置 28

13.3测量步骤 29

13.4数据处理 29

14β-γ比和n-Y比 29

14.1β-y比 29

14.2n-γ比 30

15温度效应 31

15.1测量原理 31

15.2测量装置 31

15.3测量方法 32

16闪烁体阵列的不均匀性、光串扰 33

16.1闪烁体阵列的不均匀性 33

16.2闪烁体阵列的光串扰 34

附录A(资料性)放射性同位素源主要特征 36

附录B(资料性)闪烁体标准样品的尺寸 37

Ⅲ

GB/T13181—2024

附录C(资料性)脉冲法测量系统的非线性 39

附录D(资料性)电流法测量系统的非线性 42

附录E(资料性)测量系统的不稳定性 44

参考文献 45

V

GB/T13181—2024

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

本文件代替GB/T13181—2002《闪烁体性能测量方法》,与GB/T13181—2002相比，除结构调整

和编辑性改动外，主要技术变化如下。

a)更改了标准适用范围(见第1章，2002年版的第1章)。

b)增加了“闪烁”(见3.1.1)、“封装闪烁体”(见3.1.6)、“光输出不均匀性”(见3.1.1