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短波红外焦平面TDI高光谱成像关键技术研究汇报人：2024-01-14

CATALOGUE目录引言短波红外焦平面TDI技术原理高光谱成像技术原理及应用短波红外焦平面TDI高光谱成像系统设计实验结果与分析结论与展望

01引言

研究意义将TDI技术应用于短波红外焦平面探测器，可以进一步提高高光谱成像系统的性能，为军事侦察、环境监测、资源调查等领域的应用提供有力支持。高光谱成像技术高光谱成像技术能够获取目标物体的连续光谱信息，为物质识别和分类提供丰富的特征。TDI技术时间延迟积分（TDI）技术能够提高探测器的信噪比和动态范围，对于高速运动目标的探测具有重要意义。短波红外焦平面探测器短波红外焦平面探测器具有高灵敏度、高分辨率和高帧频等优点，是高光谱成像系统的核心部件。研究背景与意义

国内在短波红外焦平面探测器及高光谱成像技术方面取得了一定进展，但在TDI技术的应用方面尚处于起步阶段。国内研究现状国外在TDI技术应用于短波红外焦平面探测器方面已有较为成熟的研究，取得了一系列重要成果。国外研究现状随着探测器性能的不断提升和计算机处理能力的增强，高光谱成像技术将朝着更高分辨率、更快速度和更智能化的方向发展。发展趋势国内外研究现状及发展趋势

本文旨在研究短波红外焦平面TDI高光谱成像关键技术，提高高光谱成像系统的性能，为相关领域的应用提供支持。研究目的首先分析短波红外焦平面探测器的性能特点，然后研究TDI技术的原理和实现方法，接着设计并实现基于TDI技术的短波红外焦平面高光谱成像系统，最后通过实验验证系统的性能。研究内容论文研究目的和内容

02短波红外焦平面TDI技术原理

时间延迟积分（TDI）原理通过多级像素电荷的累加，提高信号强度，降低噪声，从而提高成像质量。TDI级数选择根据目标运动速度和成像需求，选择合适的TDI级数，实现信号增强和噪声抑制的平衡。TDI技术基本原理

短波红外焦平面TDI技术具有高灵敏度，能够探测微弱的红外辐射信号。高灵敏度该技术具有宽动态范围，能够同时捕捉强光和弱光区域的细节信息。宽动态范围通过TDI技术，可以实现高帧频成像，满足实时、快速成像的需求。高帧频短波红外焦平面TDI技术特点

与传统红外成像技术比较传统红外成像技术通常采用单点探测器扫描成像，而TDI技术采用焦平面阵列探测器，具有更高的成像速度和分辨率。与其他高光谱成像技术比较其他高光谱成像技术如推扫式、滤光片式等，通常需要在光路中加入额外的分光元件或滤光片，而TDI技术直接在焦平面实现光谱信息的获取，简化了光路结构，提高了系统稳定性。TDI技术与其他成像技术比较

03高光谱成像技术原理及应用

高光谱成像技术基本原理光谱分辨率高光谱成像技术能够获取目标物在数百个连续窄波段的光谱信息，提供丰富的地物诊断性特征。空间分辨率该技术能够同时获取目标物的二维空间信息和一维光谱信息，实现图谱合一。成像方式通过推扫或摆扫方式，获取目标物的连续光谱图像，经过数据处理和分析，提取目标物的物理和化学属性。

遥感领域用于地表覆盖分类、环境监测、资源调查等。农业领域用于作物生长监测、病虫害诊断、精准农业等。食品领域用于食品品质检测、食品安全监控等。医学领域用于疾病诊断、药物研发等。高光谱成像技术应用领域

提高空间分辨率和光谱分辨率，获取更加精细的目标物信息。高空间分辨率与高光谱分辨率的融合结合人工智能和机器学习等技术，实现高光谱数据的自动化处理和分析。智能化处理与分析融合多源遥感数据，提高目标物识别和分类的精度和效率。多源数据融合实现高光谱成像的实时化和高动态范围成像，满足更多应用场景的需求。实时化与高动态范围成像高光谱成像技术发展趋势

04短波红外焦平面TDI高光谱成像系统设计

高光谱分辨率通过采用高光谱分辨率的成像技术，实现对目标场景的精细光谱信息获取。TDI技术利用时间延迟积分（TDI）技术，提高探测器的灵敏度和信噪比，从而改善成像质量。实时性优化系统设计和算法处理，实现高光谱数据的实时获取、处理和显示。系统总体设计思路030201

光谱范围选择根据应用需求，选择适当的短波红外光谱范围，如1.1-2.5微米或3-5微米等。光学元件设计设计合适的光学元件，如透镜、反射镜和滤光片等，以实现光谱分离和聚焦。光路优化通过优化光路结构，降低光学系统的复杂性和像差，提高成像质量。光学系统设计

探测器类型选择适合短波红外波段的探测器，如InGaAs、HgCdTe等。探测器性能分析探测器的关键性能参数，如量子效率、暗电流、噪声等，确保满足系统需求。TDI技术实现在探测器上实现TDI技术，通过电荷的多次转移和累加，提高探测器的灵敏度和信噪比。探测器选择及性能分析

信号放大与处理对读出信号进行放大和处理，包括噪声抑制、非线性校正等，以提高成像质量。数据传输与接口设计设计高速数据传输接口和