【英/法语版】国际标准 IEC 60147-0E:1979 EN-FR 补充E-基本性能参数和特征：半导体器件和测量方法的一般原理-第0部分：一般术语和特征名词 Supplement E - Essential ratings and characteristics et semiconductor devices and general principles of measuring methods - Part 0: General and terminology.pdf

以下文本介绍内容由我方AI生成，信息仅供参考，如有出入，请以实际为准。

IEC60147-0e:1979是国际电工委员会（IEC）关于半导体器件和测量方法的一般原则的修订版。这个修订本包含了补充E，即基本评级和特性等。这个部分涵盖了半导体设备的一般和术语定义。

**基本评级和特性**：

基本评级包括了许多因素，如设备类型，用途，性能，耐压能力，工作温度范围，以及各种工作模式下的效率和精度。这些因素都在设备的设计和制造过程中被考虑进去，以确保设备能够满足特定的应用需求。

**特性描述**：

特性描述包括设备的电气特性，机械特性，环境特性，安全特性等。电气特性包括输入/输出特性，功耗，频率响应，转换效率等；机械特性包括尺寸，重量，结构，防震性能等；环境特性包括工作温度，湿度，盐雾，温度变化下的性能变化等；安全特性则包括对电击的保护，对火灾的控制等。

**一般原则的测量方法**：

这个部分详细描述了如何测量这些特性，包括如何选择和设置测试设备，如何进行各种类型的测试，如何分析和解读测试结果等。这个部分也包括了一些标准的测试方法，如电气安全测试，机械强度测试，环境适应性测试等。

**Part0:Generalandterminology**：

这部分主要讨论了半导体设备的一般概念和术语定义。它定义了哪些行为和属性可以被视为半导体设备的特性，以及这些特性的描述和测量方法。这部分也包含了关于半导体设备的基本原理和设计概念，如PN结，电容效应等。

IEC60147-0e标准提供了关于半导体设备设计和测试的全面指南，涵盖了设备的各个方面，包括其电气性能，机械性能，环境适应性，以及安全性能。它为半导体设备的制造商和用户提供了重要的参考信息。