【英语版】国际标准 IEC 60512-28-100:2019 RLV EN Connectors for electrical and electronic equipment - Tests and measurements - Part 28-100: Signal integrity tests up to 2 000 MHz - Tests 28a to 28g 电器和电子设备用连接器——试验和测量——第28-100部分：高达2000MHz的信号完整性试验——试验28a至28g.pdf

以下文本介绍内容由我方AI生成，信息仅供参考，如有出入，请以实际为准。

IEC60512-28-100:2019标准是关于电气和电子设备连接器的测试标准，其中包括一系列针对信号完整性测试的试验。以下是针对试验28a至试验28g的详细解释：

试验28a：探头衰减测量

此试验用于测量连接器在高频下的衰减情况。探头衰减是指高频信号通过连接器时的损耗程度。测试方法包括使用适当的频率范围的探头，测量信号通过连接器后的衰减值。

试验28b：插入损耗测量

插入损耗是指信号在连接器插入或拔出时产生的损耗。此试验用于测量连接器在插入状态下的损耗情况。测试方法包括测量连接器插入前后的信号强度差异。

试验28c：反射损耗测量

反射损耗是指信号在连接器接口处反射回来的损耗。此试验用于测量连接器接口处的反射情况，以评估连接器的性能。

试验28d：电场强度测量

此试验用于测量连接器周围电场强度，以评估连接器对电磁干扰（EMI）的抵抗能力。测试方法包括使用适当的测量仪器，测量连接器周围电场强度。

试验28e：磁场强度测量

此试验用于测量连接器周围磁场强度，以评估连接器对磁场干扰的抵抗能力。测试方法与电场强度测量类似，使用适当的测量仪器测量连接器周围磁场强度。

试验28f：电压波动测量

电压波动是指信号电压在传输过程中发生的波动。此试验用于测量连接器的电压波动情况，以评估其性能。测试方法包括在连接器的一端输入一定频率和强度的信号，测量另一端的电压波动情况。

试验28g：电磁辐射测量

此试验用于测量连接器在受到电磁辐射时的表现，以评估其抗电磁干扰能力。测试方法包括向连接器施加一定强度的电磁辐射，观察其是否会产生电磁泄漏或辐射干扰。

以上就是IEC60512-28-100:2019标准中关于信号完整性测试试验28a至试验28g的详细解释。这些测试对于确保电气和电子设备的性能和可靠性至关重要。