【英/法语版】国际标准 IEC 61338-1-5:2015 EN-FR Waveguide type dielectric resonators - Part 1-5: General information and test conditions - Measurement method of conductivity at interface between conductor layer and dielectric substrate at microwave frequency 波导型介.pdf

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IEC61338-1-5:2015EN-FRWaveguidetypedielectricresonators-Part1-5:Generalinformationandtestconditions-Measurementmethodofconductivityatinterfacebetweenconductorlayeranddielectricsubstrateatmicrowavefrequency是一份国际电工委员会（IEC）制定的标准，专门针对微波频率下导体层与介电质基板界面上的电导率进行测量。以下是对该标准的详细解释：

IEC61338-1-5标准的主要内容包括：

*该标准规定了测试的通用信息和测试条件，包括测试环境、设备要求、样品准备等。

*在微波频率下，测量导体层与介电质基板界面上的电导率是一项重要的测试指标。

*为了进行准确的测量，需要确定适当的测量方法和测试步骤。

在该标准中，具体规定了以下测量方法：

*选取适当的探针或接触电极，将其放置在导体层与介电质基板界面上，以形成良好的电气接触。

*使用适当的测量仪器（如直流电阻测试仪）来读取导体层的电阻值。

*通过测量导体层和介电质基板的参数（如介电常数、损耗因子等），可以计算出界面上的电导率。

需要注意的是，在进行此类测试时，需要确保测试环境的稳定性和一致性，以避免对测试结果产生影响。对于不同类型的导电层和介电质基板，可能需要采用不同的测试方法和设备，因此在实际应用中需要根据具体情况进行选择。