【英/法语版】国际标准 IEC 61788-17:2013 EN-FR 超导性 - 第17部分：电子特性测量 - 大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布 Superconductivity - Part 17: Electronic characteristic measurements - Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films.pdf

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IEC61788-17:2013EN-FRSuperconductivity-Part17:Electroniccharacteristicmeasurements-Localcriticalcurrentdensityanditsdistributioninlarge-areasuperconductingfilms是国际电工委员会（IEC）发布的一个标准，专门针对超导材料的大面积薄膜中的局部临界电流密度及其分布进行测量。以下是标准的详细解释：

这个标准规定了进行大面积超导薄膜中局部临界电流密度的测量方法和相关测试条件。具体来说，它涵盖了以下主要内容：

1.定义和术语：标准中列出了与测量相关的术语和定义，以便准确地理解测试方法和结果。

2.测试设备：标准描述了用于测量局部临界电流密度的设备，包括样品夹具、电流源、测量仪器等，并规定了这些设备的性能要求。

3.样品准备：标准说明了如何准备样品，包括薄膜的制备、样品夹具的设计和安装等。

4.测试过程：标准详细描述了测试过程，包括如何设置测试条件、如何进行测试、如何记录和分析结果等。

5.数据处理：标准规定了如何对测试数据进行处理和分析，以获得局部临界电流密度及其分布的信息。

6.误差分析：标准讨论了可能影响测试结果准确性的因素，如测试设备的误差、样品制备的误差等，并提供了相应的误差分析方法。

7.报告和记录：标准要求测试过程和结果应以报告和记录的形式保存，以便日后参考和分析。

通过执行这个标准，可以获得大面积超导薄膜中局部临界电流密度的详细信息，这对于理解超导材料的性能、评估其应用潜力以及进行材料优化等方面具有重要意义。在实际测试中，需要按照标准中的要求进行操作，以确保测试结果的准确性和可靠性。