【英/法语版】国际标准 IEC 61788-17:2021 EN-FR 超导性 - 第17部分：电子特性测量 - 大面积超导薄膜中的局部临界电流密度及其分布 Superconductivity - Part 17: Electronic characteristic measurements - Local critical current density and its distribution in large-area superconducting films.pdf

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IEC61788-17:2021EN-FRSuperconductivity-Part17:Electroniccharacteristicmeasurements-Localcriticalcurrentdensityanditsdistributioninlarge-areasuperconductingfilms是一个国际电工委员会（IEC）的标准，专门用于测量大面积超导薄膜中局部临界电流密度及其分布。

具体来说，这个标准提供了以下测量方法和技术：

1.样品准备：选择适当的超导薄膜样品，通常是一个大面积的样品，以便能够测量其局部临界电流密度。

2.测量系统：使用适当的测量系统来检测和控制样品周围的磁场和温度。通常需要一个低温系统，可以在极低的温度下保持样品。

3.测量过程：使用特殊的测量技术来测量超导薄膜中不同区域的电流密度。这通常涉及到使用特殊的电流探针或激光扫描系统来检测薄膜中的电流密度分布。

4.数据分析和解释：根据测量的数据，可以分析局部临界电流密度与超导薄膜的几何形状、材料特性、温度和其他因素之间的关系。

IEC61788-17:2021EN-FR标准提供了一种测量大面积超导薄膜中局部临界电流密度及其分布的方法，这对于理解超导材料的性能和开发新型超导材料具有重要意义。该标准适用于各种类型的超导薄膜，包括商业和科研用途的超导材料。

请注意，具体实施这个标准可能需要一定的专业知识和技能，并可能需要特殊的设备和实验室条件。在进行测量之前，建议仔细阅读标准的详细说明和附录，并咨询相关领域的专家或实验室以获得更具体的指导。