【英/法语版】国际标准 IEC 61967-6:2002 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic emissions, 150 kHz to 1 GHz - Part 6: Measurement of conducted emissions - Magnetic probe method 集成电路 - 电磁辐射的测量 - 频率范围为150 kHz至1 GHz - 第6部分：传导辐射的测量 - 磁探针法.pdf

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IEC61967-6:2002EN-FR集成电路-电磁辐射的测量，150kHz至1GHz-第6部分：传导辐射的测量-磁探法是国际电工委员会（IEC）制定的一项标准，专门用于测量电子设备在高频范围内的电磁辐射。它涵盖了150kHz到1GHz的频率范围，是评估设备在电磁场暴露下的性能的重要标准。

该标准中的磁探法是一种常用的传导辐射测量方法。它通过测量设备在通电状态下，由于电路中的瞬态效应而产生的磁场，来评估设备产生的电磁辐射。这种方法可以提供设备在电源线上传播的电磁辐射的详细信息，包括其幅度、频率和波形。

在进行磁探法测试时，需要选择适当的磁探头，以适应不同的设备和测试环境。磁探头能够感应并转换设备产生的磁场为电信号，然后通过适当的测量设备进行记录和分析。

IEC61967-6:2002标准对于保护公众免受高频电磁辐射的影响非常重要，因为它规定了设备制造商和测试机构必须遵守的测量方法和标准。通过遵守此标准，可以确保电子设备在不影响设备性能的同时，也符合公众健康和安全的要求。