GB_T 33352-2024 电子电气产品中限用物质筛选应用通则 X射线荧光光谱法.docx

ICS13.020.01;43.040.10

CCSL10

中华人民共和国国家标准

GB/T33352—2024

代替GB/T33352—2016

电子电气产品中限用物质筛选应用通则

X射线荧光光谱法

Generalrulesofscreeningapplicationofrestrictedsubstancesinelectricaland

electronicproducts—X-Rayfluorescencespectrometry

2024-04-25发布

2024-08-01实施

国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会

发布

I

GB/T33352—2024

目次

前言 Ⅲ

引言 IV

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义 1

4试剂和材料 4

5XRF光谱仪 4

5.1总体要求 4

5.2软件要求 4

5.3X射线防护要求 4

5.4其他硬件配置 5

5.5XRF光谱仪性能要求与测试方法 5

6XRF人员的技术能力要求 9

6.1XRF制样人员 9

6.2XRF操作人员 9

6.3XRF技术主管 9

7工作条件 9

8开机维护 10

9测试程序 10

9.1样品准备 10

9.2筛选测试 10

9.3测试结果的分析与判定 12

10质量控制 14

10.1校准的准确度 14

10.2质控样品 14

11文档记录 15

附录A(资料性)电子电气产品中限用物质XRF筛选常用的有证标准物质和标准物质 16

参考文献 20

Ⅲ

GB/T33352—2024

前言

本文件按照GB/T1.1—2020《标准化工作导则第1部分：标准化文件的结构和起草规则》的规定

起草。

本文件代替GB/T33352—2016《电子电气产品中限用物质筛选应用通则X射线荧光光谱法》,与

GB/T33352—2016相比，除结构调整和编辑性改动外，主要技术变化如下：

-—增加了正确度的定义、要求及验证方法(见3.16和5.5.5);

——更改了检出限指标的验证测试方法，直接引用GB/T31364—2015中相关方法(见5.5.4,2016年

版的A.2.2);

——更改了能量分辨力指标的验证测试方法，直接引用GB/T31364—2015中相关方法(见

5.5.6,2016年版的5.5);

——增加了X射线光斑小于3mm的光斑位置要求[见5.5.9b]];

——删除了规范性附录A,并将精密度和检出限两项性能指标要求及验证方法相关内容放入正文

中(见5.5.3和5.5.4)。

请注意本文件的某些内容可能涉及专利。本文件的发布机构不承担识别专利的责任。

本文件由全国电工电子产品与系统的环境标准化技术委员会(SAC/TC297)提出并归口。

本文件起草单位：中国电子技术标准化研究院、深圳赛西信息技术有限公司、江苏威诺检测技术有限公司、江苏天瑞仪器股份有限公司、佳谱仪器(苏州)有限公司、格林美股份有限公司、中兴通讯股份有限公司、广州金谷科学仪器有限公司、厦门大学、中航锂电(洛阳)有限公司、北京绿色智汇能源技术研究院、深圳普瑞赛思检测技术有限公司、广东美的制冷设备有限公司、重庆市大明汽车电器有限公司、深圳市泓盛仪器设备有限公司、江西紫宸科技有限公司、中国质量认证中心华南实验室、岛津企业管理(中国)有限公司、纳优科技(北京)有限公司、阿美特克商贸(上海)有限公司、中认英泰检测技术有限公

司、广州海关技术中心、中家院(北京)检测认证有限公司、青岛海关技术中心。

本文件主要起草人：高坚、邢卫兵、魏胜记、吴敏、韩叶春、魏琼、王显、蒋立军、张先华、曹勇、王晓超、

范亚飞、陶云、张霓、张亚夫、刘东任、卢晓明、吴静、杨李锋、潘力、宋西玉、宋武元、胡晓桐、叶曦雯。

本文件于2016年首次发布，本次为第一次修订。

IV

GB/T33352—2024

引言

电子电气产品的广泛使用使人们更加关注其对环境的影响，世界上许多国家或地区制定专门的法

规限制某些有害物质在电子电气产品中使用。

电子电气产品的生产企业为了确保限用物质符合法规的要求，需要对产品的材料进行检测，X射线荧光光谱法(以下简称XRF)是一种快速、低成本、易于操作甚至是无损的定量或半定量的电子电气产