【英/法语版】国际标准 IEC 62132-4:2006 EN-FR Integrated circuits - Measurement of electromagnetic immunity 150 kHz to 1 GHz - Part 4: Direct RF power injection method 集成电路的电磁抗扰度测量150 kHz至1 GHz——第四部分：直接射频功率注入法.pdf

IEC62132-4:2006EN-FR集成电路-电磁抗干扰度测量-150kHz至1GHz-第4部分:直接射频功率注射法（IEC62132-4:2006EN-FRIntegratedcircuits-Measurementofelectromagneticimmunity150kHzto1GHz-Part4:DirectRFpowerinjectionmethod）是一份国际电工委员会（IEC）制定的标准，专门用于评估集成电路的电磁抗干扰性能。该标准规定了用于测量集成电路在高频（150kHz至1GHz）范围内的电磁抗干扰度的具体方法。

该方法主要通过直接射频功率注射来进行测试。具体来说，该标准规定了测试设备的设置、测试信号的生成、测试样品的放置和接触方式、测试参数的调整、测试结果的记录和分析等细节。这种方法旨在模拟在实际应用中可能遇到的电磁环境，评估集成电路对这种环境的抗干扰能力。

通过这种方法，可以评估集成电路在受到电磁辐射、噪声干扰或其他电磁信号影响时的性能表现，从而帮助设计人员优化电路，提高其电磁抗干扰能力。该标准适用于各种类型的集成电路，包括但不限于微处理器、微控制器、数字电路、模拟电路等。