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LED器件和灯具的寿命分析钟群博士CenturyEpitechCo.LTD---世纪晶源科技有限公司如何理解LED照明的寿命?同LED器件,电源,以及所有配件的寿命有关寿命同可靠性有关,或者说同上述所有零部件的失效有关:R(t)=1–P(t) R(t):可靠性几率 P(t):失效几率 t:时间平均失效时间MTTF实例分析LuxeonLED器件的MTTF可达108devicehrs;单个器件使用10000小时的可靠性几率: R(t)=exp{-10000/108} =exp{-10-4} =99.99%失效几率P(t)=1-R(t) =0.01%or100ppm 传统照明工业的寿命标准LED的B-寿命的理解LED的L-寿命的理解同L-寿命相关的机理是光衰,或者反过来说,光维持。LED的正常情形(非失效原因)的光衰同下述原因有关:芯片结构LED芯片PN结温工作电流根据美国ASSIST(AllianceforSolid-stateIlluminationSystemsTechnologies)的建议,L-寿命以LED光通下降到初始70%为界限,记为L-70。当然在某些特殊应用上可以改变,比如许多灯具连成一片的照明工程可以采用L-80;装饰性灯光工程可以采用L-50。LED的L-寿命同LED-PN结温有关LED的L-寿命同工作电流有关LED器件寿命---同芯片和封装的关系L-寿命---同LEDPN结温的关系L-寿命同LED结温的关系采用Arrhenius模型:Lifetime∝exp(Ea/kTj)其中:Ea:活化能,单位是电子伏特(eV)k:Boltzman常数(8.617x10-5eV/K)Tj:结温,绝对温度对于半导体材料来说,历史上Ea活化能定为0.43eV.但是对于AlGaInP和InGaN这些LED材料来说,0.43eV已不合适,而且不同厂家生产的LED材料的Ea都不相同。一般来说,Ea越大,则LED在低结温下寿命更长。活化能对L-寿命的影响现在市场上的LED灯具一般结温控制在65-95℃,即338-368K:Log(t2/t1)=Ea/K*(1/T1-1/T2) =Ea/K*(1/338-1/368)推导结果:t2/t1=exp(2.8Ea)结温的推算
---热阻定义结温的推算
---热阻模型
同电阻计算
完全一致!结温的推算---热阻模型单一材料热阻计算结温的推算---结温计算LED器件寿命的测试---TMPTMP=温度测量点散热铜柱(Slug)上的温度贴片LED的引脚上(SolderingPoint)的温度封装底座上的温度(Substrate)上的温度LED模组上MCPCB(金属基PCB)的温度电源外壳温度电源基座温度TMP的测试示意图LED器件的寿命---测试6000小时L公司LED器件的寿命测试案例1L公司LED器件的寿命测试案例2L公司LED器件的寿命测试案例3LED器件寿命曲线的模拟和推导WeibullDistribution大功率LED寿命测试和测算1
大功率LED寿命测试和测算2
大功率LED寿命测试和测算3
大功率LED寿命测试和测算4O-公司普通结构大功率LED的寿命O-公司ThinFilm结构大功率LED的寿命O-公司ThinFilm结构超大功率LED的寿命L-公司某种InGaN大功率LED的寿命
(B50和B10相比)L-公司某种AlGaInP大功率LED的寿命
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(B50,结温和封装基座温度的比较)L-公司某种AlGaInP大功率LED的寿命
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