【英/法语版】国际标准 IEC 62562:2010 EN-FR 腔模法测量低损耗介质板的复介电常数的方法 Cavity resonator method to measure the complex permittivity of low-loss dielectric plates.pdf

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  •   |  2010-02-18 颁布

【英/法语版】国际标准 IEC 62562:2010 EN-FR 腔模法测量低损耗介质板的复介电常数的方法 Cavity resonator method to measure the complex permittivity of low-loss dielectric plates.pdf

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IEC62562:2010EN-FRCavityresonatormethodtomeasurethecomplexpermittivityoflow-lossdielectricplates是一个国际电工委员会(IEC)制定的标准,用于测量低损耗介质板的介电常数(permittivity)的复杂值。

该方法主要基于腔体谐振器(cavityresonator)技术,通过测量腔体谐振器与介质板之间的耦合效应,以及腔体谐振器的频率响应来获取介电常数的信息。

具体来说,该方法包括以下步骤:

1.准备腔体谐振器:选择适当的腔体谐振器,确保其尺寸和形状与待测介质板相匹配。

2.放置介质板:将待测介质板放置在腔体谐振器中,确保其与腔体谐振器紧密耦合。

3.测量频率响应:使用适当的测量仪器,如微波信号源和微波接收器,测量腔体谐振器的频率响应。

4.提取介电常数信息:通过分析频率响应数据,可以提取出介电常数的信息。具体来说,可以通过腔体谐振器的耦合效应和频率响应的变化来计算介电常数的复数值,包括实部和虚部。

需要注意的是,该方法适用于测量低损耗介质板的介电常数。对于高损耗介质板或含有其他复杂因素的介质板,可能需要采用其他方法进行测量。该方法需要适当的测量仪器和实验室环境,以确保测量结果的准确性和可靠性。

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