- 12
- 0
- 2024-07-13 发布于四川
-
正版发售
- 现行
- 正在执行有效期
- | 2019-05-29 颁布
- 1、本网站所提供的标准文本仅供个人学习、研究之用,未经授权,严禁复制、发行、汇编、翻译或网络传播等,侵权必究。
- 2、本网站所提供的标准均为PDF格式电子版文本(可阅读打印),因数字商品的特殊性,一经售出,不提供退换货服务。
- 3、标准文档要求电子版与印刷版保持一致,所以下载的文档中可能包含空白页,非文档质量问题
查看更多
IEC62402:2019EN-FR“Obsolescencemanagement”是指通过规划和执行一组系统性的步骤和方法,对产品和服务在生命周期内的可靠性进行监测和维护,从而最大程度地减少技术落后的程度并减少其对业务绩效和环境影响的所有过程和活动的集合。它涉及到产品的设计、制造、使用、维护、替换和废弃等各个阶段,以确保产品在生命周期内保持最佳性能和可靠性。这个标准旨在确保组织在管理其产品和服务生命周期时,能够有效地降低技术落后的风险,同时实现经济、环境和社会方面的最佳绩效。
在这个过程中,组织需要评估和预测产品的技术寿命,制定相应的维护和升级计划,并确保这些计划得到有效执行。组织还需要考虑如何处理废弃的产品,确保其安全和环保地处置,以最小化对环境的影响。
IEC62402:2019EN-FR“Obsolescencemanagement”是一个综合性的标准,旨在帮助组织在整个产品和服务生命周期内实现可持续性和环保性,同时确保最佳的业务绩效。
您可能关注的文档
- 国际标准 IEC 62396-1:2016 EN 航空电子设备中的过程管理-大气辐射效应-第1部分:容纳大气辐射效应通过航空电子设备中的单事件效应 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 1: Accommodation of atmospheric radiation effects via single event effects within avionics electroni.pdf
- 国际标准 IEC 62396-1:2016 EN Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 1: Accommodation of atmospheric radiation effects via single event effects within avionics electronic equipment 航空电子设备中的过程管理-大气辐射效应-第1部分:容纳大气辐射效应通过航空.pdf
- 国际标准 IEC 62396-1:2016 RLV EN 航空电子设备中的过程管理-大气辐射效应-第1部分:容纳航空电子设备中的大气辐射效应引起的单次事件影响 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 1: Accommodation of atmospheric radiation effects via single event effects within avionics ele.pdf
- 国际标准 IEC 62396-1:2016 RLV EN Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 1: Accommodation of atmospheric radiation effects via single event effects within avionics electronic equipment 航空电子设备中的过程管理-大气辐射效应-第1部分:容纳航空电子设备.pdf
- 国际标准 IEC 62396-2:2012 EN 航空电子设备过程管理大气辐射效应第2部分:航空电子系统单次事件效应测试指南 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems.pdf
- 国际标准 IEC 62396-2:2012 EN Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems 航空电子设备过程管理大气辐射效应第2部分:航空电子系统单次事件效应测试指南.pdf
- 国际标准 IEC 62396-2:2017 EN 航空电子设备的过程管理——大气辐射效应——第2部分:针对航空电子设备单次事件效应测试的指南 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems.pdf
- 国际标准 IEC 62396-2:2017 EN Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 2: Guidelines for single event effects testing for avionics systems 航空电子设备的过程管理——大气辐射效应——第2部分:针对航空电子设备单次事件效应测试的指南.pdf
- 国际标准 IEC 62396-3:2013 EN 航空电子设备的过程管理-大气辐射效应-第3部分:系统设计优化以适应大气辐射的单次事件效应(SEE) Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 3: System design optimization to accommodate the single event effects (SEE) of atmospheric radiatio.pdf
- 国际标准 IEC 62396-3:2013 EN Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 3: System design optimization to accommodate the single event effects (SEE) of atmospheric radiation 航空电子设备的过程管理-大气辐射效应-第3部分:系统设计优化以适应大气辐射的单次事件效应(SEE.pdf
- 国际标准 IEC 62402:2019 EN-FR Obsolescence management 过时性管理.pdf
- 国际标准 IEC 62403:2005 EN_D CD-R/RW光盘高密度记录格式 - HD-BURN格式 High density recording format on CD-R/RW disc systems - HD-BURN format.pdf
- 国际标准 IEC 62403:2005 EN_D High density recording format on CD-R/RW disc systems - HD-BURN format CD-R/RW光盘高密度记录格式 - HD-BURN格式.pdf
- 国际标准 IEC 62403:2005 EN-FR CD-R/RW光盘系统的高密度记录格式 - HD-BURN格式 High density recording format on CD-R/RW disc systems - HD-BURN format.pdf
- 国际标准 IEC 62403:2005 EN-FR High density recording format on CD-R/RW disc systems - HD-BURN format CD-R/RW光盘系统的高密度记录格式 - HD-BURN格式.pdf
- 国际标准 IEC 62415:2010 EN-FR 半导体器件 - 恒定电流电迁移测试 Semiconductor devices - Constant current electromigration test.pdf
- 国际标准 IEC 62415:2010 EN-FR Semiconductor devices - Constant current electromigration test 半导体器件 - 恒定电流电迁移测试.pdf
- 国际标准 IEC 62416:2010 EN-FR 半导体器件-MOS晶体管热电子迁移测试 Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors.pdf
- 国际标准 IEC 62416:2010 EN-FR Semiconductor devices - Hot carrier test on MOS transistors 半导体器件-MOS晶体管热电子迁移测试.pdf
- 国际标准 IEC 62417:2010 EN-FR 半导体器件 - 用于金属氧化物半导体场效应晶体管(MOSFET)的移动离子测试 Semiconductor devices - Mobile ion tests for metal-oxide semiconductor field effect transistors (MOSFETs).pdf
文档评论(0)