【英语版】国际标准 IEC 62528:2007 EN Standard Testability Method for Embedded Core-based Integrated Circuits 嵌入式核心基集成电路的标准可测试性方法.pdf

IEC62528:2007ENStandardTestabilityMethodforEmbeddedCore-basedIntegratedCircuits是一个国际电工委员会（IEC）制定的标准，用于评估嵌入式核心基于集成电路的测试可访问性。这个标准提供了一种方法，用于确定和量化电路中的各种因素对测试过程的影响，并确定如何优化这些因素以提高测试效率和质量。该标准提供了以下方面的详细解释和指导：

1.测试可访问性评估：该标准提供了评估测试可访问性的方法，包括电路的物理结构、电路设计、测试接口、测试夹具和测试程序等方面。通过评估这些因素，可以确定电路是否易于进行测试，以及测试所需的时间、资源和成本。

2.电路物理结构：该标准考虑了电路的物理布局、连接方式、芯片封装等因素，以确定其对测试过程的影响。例如，电路的布局是否易于拆卸和替换？连接方式是否易于测试夹具的安装？芯片封装是否会影响测试夹具的设计和测试程序的编写？

3.电路设计因素：该标准考虑了电路设计中的各种因素，如模块划分、信号路径、接口设计等，以确定其对测试过程的影响。例如，模块划分是否有利于测试程序的编写？信号路径是否易于测试夹具的测量？接口设计是否会影响测试夹具的兼容性和可靠性？

4.测试接口：该标准强调了测试接口的设计和实现，以确保测试夹具能够正确地连接到电路中。测试接口的设计需要考虑电路的物理布局、连接方式、信号质量和传输速率等因素。

5.测试夹具：该标准强调了测试夹具的设计和制造，以确保测试过程的稳定性和可靠性。测试夹具的设计需要考虑电路的物理结构、测试接口等因素，同时还要考虑夹具的成本、重量、体积等因素。

6.测试程序：该标准强调了测试程序的开发和验证，以确保测试过程的准确性和有效性。测试程序的开发需要考虑电路的设计和物理结构等因素，同时还要考虑测试夹具的兼容性和可靠性。

IEC62528:2007ENStandardTestabilityMethodforEmbeddedCore-basedIntegratedCircuits标准提供了一种全面评估嵌入式核心基于集成电路测试可访问性的方法，帮助设计人员优化电路中的各种因素以提高测试效率和质量。