【英语版】国际标准 IEC 62396-4:2013 EN 航空电子设备的过程管理-大气辐射效应-第4部分：高压电子设备设计，处理潜在的单次辐射效应 Process management for avionics - Atmospheric radiation effects - Part 4: Design of high voltage aircraft electronics managing potential single event effects.pdf

IEC62396-4:2013EN航空电子设备-大气辐射效应-第4部分：管理潜在单粒子效应的高压飞机电子设备的设计。

IEC62396-4是一个关于航空电子设备的大气辐射效应的标准，它涵盖了飞机电子设备在辐射环境中的设计考虑。这个标准特别关注了高压电子设备，这些设备可能会受到单粒子效应的影响。

单粒子效应通常发生在高能粒子直接撞击半导体芯片时，可能导致芯片中的元件损坏或数据丢失。这种效应在飞机在太空辐射环境中运行时可能会发生，因此需要特别的设计考虑。

IEC62396-4标准提供了以下方面的详细指导：

1.设备设计原则：该标准提供了关于如何设计能够抵抗单粒子效应的电子设备的指导原则，包括选择材料、电路设计、芯片布局等。

2.防护措施：该标准建议采用各种防护措施来减少单粒子效应的风险，例如使用屏蔽、滤波器、冗余设计等。

3.测试和验证：该标准还强调了测试和验证电子设备在辐射环境中的性能的重要性，以确保其能够正常工作。

IEC62396-4:2013EN标准为高压飞机电子设备的设计提供了详细的指导，以确保它们在潜在的单粒子效应环境中能够正常工作。