【英语版】国际标准 IEC 62899-503-1:2020 EN 印刷电子技术 - 第503-1部分：质量评估-测试方法针对印刷薄膜晶体管的位移电流测量 Printed electronics - Part 503-1: Quality assessment - Test method of displacement current measurement for printed thin-film transistor.pdf

IEC62899-503-1:2020ENPrintedelectronics-Part503-1:Qualityassessment-Testmethodofdisplacementcurrentmeasurementforprintedthin-filmtransistor是国际电工委员会（IEC）发布的一份关于印刷电子产品的标准，其第503部分专门针对印刷薄膜晶体管（printedthin-filmtransistor,简称PTFT）的质量评估测试方法进行了规定。

该标准主要涵盖了以下内容：

1.标准背景和目的：该标准旨在为印刷电子产品的生产商提供一套统一的、可重复的测试方法，以确保产品在性能和质量方面符合预期的标准和要求。

2.测试范围：该标准适用于所有类型的印刷电子设备，包括显示器、传感器、电子纸等。对于PTFT器件，该标准特别关注了位移电流测量的测试方法。

3.测试原理和方法：该标准规定了使用适当的测量设备和测量程序来测量PTFT器件的位移电流，以评估其性能和质量。测量过程中需要考虑到设备的电路设计、材料选择、工艺过程等多个因素。

4.测量设备和材料：该标准规定了所需的测量设备、测量参数和材料要求，以确保测试结果的准确性和可靠性。还要求提供用于控制和保证测试条件的措施。

5.结果解释和评估：该标准提供了对测试结果的分析和解释方法，包括异常数据的处理、测试结果的合格性判断等。同时，还要求提供必要的测试报告和文档，以便于对测试过程和结果进行追溯和评估。

IEC62899-503-1:2020ENPrintedelectronics-Part503-1:Qualityassessment-Testmethodofdisplacementcurrentmeasurementforprintedthin-filmtransistor标准为印刷电子产品的质量评估提供了一套详细、可操作的测试方法，以确保产品的性能和质量达到预期的标准和要求。