【英/法语版】国际标准 IEC 62951-2:2019 EN-FR 半导体器件-柔性及可拉伸半导体器件-第2部分：柔性器件电子迁移率、亚阈值跃迁和阈电压的评价方法 Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 2: Evaluation method for electron mobility, sub-threshold swing and threshold voltage of fl.pdf

IEC62951-2:2019EN-FR半导体器件-柔性及可拉伸半导体器件-第2部分：可拉伸柔性器件电子迁移率、亚阈值跃迁速度和阈电压的评价方法

IEC62951-2:2019是国际电工委员会（IEC）发布的一份关于柔性及可拉伸半导体器件的标准，用于规范柔性器件的电子迁移率、亚阈值跃迁速度和阈电压的评价方法。该标准主要适用于半导体器件的设计、制造、测试和评估。

电子迁移率（ElectronMobility）是描述电子在半导体材料中运动特性的参数，它与器件的性能和可靠性密切相关。亚阈值跃迁速度（SubthresholdSwing）是描述器件工作电压与阈值电压之间关系的参数，对于低功耗、低热量产生的设计至关重要。阈电压（ThresholdVoltage）则是决定器件开关行为的关键参数之一。

评价方法在标准中详细描述了测试设备和实验步骤，以确保所得数据准确可靠。该标准还提供了有关如何分析这些数据以及如何将其应用于设计优化和性能评估的建议。该标准还考虑到不同材料体系和结构类型的柔性器件的特殊要求，具有广泛的适用性。

在实际应用中，该标准对于生产商、测试机构和科研人员来说非常重要，因为它提供了一套通用的、可重复的实验方法和评估标准，有助于提高柔性器件的性能和可靠性。