【英语版】国际标准 IEC 62951-3:2018 EN Semiconductor devices - Flexible and stretchable semiconductor devices - Part 3: Evaluation of thin film transistor characteristics on flexible substrates under bulging 半导体器件-柔性及拉伸型半导体器件-第3部分：在柔性基板上对柔性薄膜晶体管特性的评价.pdf

IEC62951-3:2018EN半导体器件-柔性及可拉伸半导体器件-第3部分：在可膨胀性条件下在柔性基板上对薄膜晶体管特性的评估

IEC62951-3:2018是一个国际电工委员会（IEC）制定的标准，专门针对柔性及可拉伸半导体器件。这部分标准涉及到薄膜晶体管（TFT）特性的评估，特别是在柔性基板上的评估。薄膜晶体管是半导体器件的一种，用于控制和执行电子在芯片上的流动。

这个标准主要关注的是在可膨胀性条件下，对柔性基板上薄膜晶体管的特性的评估过程。具体来说，它规定了如何通过模拟可膨胀性条件来测试和评估薄膜晶体管的性能，包括但不限于电阻、电容、电流密度、电压分布等参数。这个标准是为了确保柔性及可拉伸半导体器件在面临实际使用条件时的性能和稳定性。

在执行这个标准时，需要遵循一系列的测试方法和步骤，包括但不限于选择合适的测试设备、设定适当的测试条件、进行薄膜晶体管的性能评估、记录和分析测试结果等。这些步骤需要专业知识和技能，以确保测试结果的准确性和可靠性。

IEC62951-3:2018标准是用于评估柔性及可拉伸半导体器件薄膜晶体管特性的重要指南，对于确保这些器件的性能和稳定性具有重要意义。