【英语版】国际标准 IEC TR 63133:2017 EN 半导体器件-基于扫描的半导体器件老化水平估计 Semiconductor devices - Scan based ageing level estimation for semiconductor devices.pdf

IECTR63133:2017EN半导体器件-基于扫描的老化水平估计半导体器件是一个国际电工委员会（IEC）的技术报告标准，专门针对半导体器件的扫描老化水平估计进行规定和指导。这项标准提供了一套通用方法，用于评估半导体器件在使用过程中由于老化引起的性能退化程度。这项标准在制定时考虑到不同类型和制造商的半导体器件的特性和要求，以确保其在整个半导体产业中得到广泛的应用和实施。标准的内容涵盖了扫描老化水平估计的各个方面，包括测试方法、测试设备、测试程序、数据分析和报告等。这项标准旨在帮助半导体制造商、测试机构和用户更好地了解半导体器件的老化过程，从而优化产品的设计和制造，提高产品的可靠性和使用寿命。同时，这项标准也为半导体器件的售后服务和维修提供了重要的参考依据。