Hi3511V110可靠性试验报告.docxVIP

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2024-07-21 发布于四川
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Hi3511V110可靠性试验报告.docx

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HisiliconTechnologiesCo.,Ltd.

Productversion

Confidentialitylevel

V110

Secret

Productname:Hi3511

Totalpages:9

TheReliabilityTestReportOf

Hi3511/Hi3512

PreparedbyReviewedbyGrantedby

Preparedby

Reviewedby

Grantedby

罗静芳湛灿辉夏君

Date2008-12-01

Date2008/2?01

Date2008/2-01

海思半导体有限公司

Catalog

TOC\o1-5\h\z\oCurrentDocumentInstruction 3

\oCurrentDocument1、Definition 4

\oCurrentDocumentPreconditioningTesting(PC) 4

\oCurrentDocumentTemperatureCycling(TC) 4

\oCurrentDocumentHighlyAcceleratedStressTest(HAST) 5

\oCurrentDocumentHighTemperatureOperationalLife(HTOL) 5

\oCurrentDocumentElectrostaticDischarge：HumanBodyModel 5

\oCurrentDocumentLatch-UpTest 6

\oCurrentDocument2.ProductReliability 7

\oCurrentDocumentPre-conditionTest：levelIII 7

\oCurrentDocumentHighAcceleratedStressTest 7

\oCurrentDocumentTemperatureCyclingTest 8

\oCurrentDocumentHighTemperatureOperationTest 8

\oCurrentDocumentESD-HumanBodyMode 8

\oCurrentDocumentLatch-upTest 9

Instruction

ThisreportispublishedbyHisilicontoprovideinsighttoourcustomersregardingthereliabilityofHisiliconproducts.Reliabilityisdefinedasproductperformancetospecificationovertimeinresponsetovariedenvironmentalstressconditions.Theultimategoalofourreliabilityprogramistoachievecontinuousimprovementintherobustnessoftheproductbeingevaluated.

Aspartofthisprogram,finishedproductreliabilityismeasuredperiodicallytoensurethattheproductperformancemeetsorexceedsinternalandexternalreliabilityspecifications.Reliabilityprogramsareexecutedinresponsetointernalprogramsaswellastoindividualcustomerrequirement.AlltestsareperformedorsupervisedbyexperiencedHisiliconemployeesusingfacilitiesthatareapprovedandauditedbyHisiliconforcompliancetotherequirementsofJEDECandMIL-STD-883.

1、Definition

PreconditioningTesting(