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HisiliconTechnologiesCo.,Ltd.
Productversion
Confidentialitylevel
V110
Secret
Productname:Hi3511
Totalpages:9
TheReliabilityTestReportOf
Hi3511/Hi3512
PreparedbyReviewedbyGrantedby
Preparedby
Reviewedby
Grantedby
罗静芳湛灿辉夏君
Date2008-12-01
Date2008/2?01
Date2008/2-01
海思半导体有限公司
Catalog
TOC\o1-5\h\z\oCurrentDocumentInstruction 3
\oCurrentDocument1、Definition 4
\oCurrentDocumentPreconditioningTesting(PC) 4
\oCurrentDocumentTemperatureCycling(TC) 4
\oCurrentDocumentHighlyAcceleratedStressTest(HAST) 5
\oCurrentDocumentHighTemperatureOperationalLife(HTOL) 5
\oCurrentDocumentElectrostaticDischarge:HumanBodyModel 5
\oCurrentDocumentLatch-UpTest 6
\oCurrentDocument2.ProductReliability 7
\oCurrentDocumentPre-conditionTest:levelIII 7
\oCurrentDocumentHighAcceleratedStressTest 7
\oCurrentDocumentTemperatureCyclingTest 8
\oCurrentDocumentHighTemperatureOperationTest 8
\oCurrentDocumentESD-HumanBodyMode 8
\oCurrentDocumentLatch-upTest 9
Instruction
ThisreportispublishedbyHisilicontoprovideinsighttoourcustomersregardingthereliabilityofHisiliconproducts.Reliabilityisdefinedasproductperformancetospecificationovertimeinresponsetovariedenvironmentalstressconditions.Theultimategoalofourreliabilityprogramistoachievecontinuousimprovementintherobustnessoftheproductbeingevaluated.
Aspartofthisprogram,finishedproductreliabilityismeasuredperiodicallytoensurethattheproductperformancemeetsorexceedsinternalandexternalreliabilityspecifications.Reliabilityprogramsareexecutedinresponsetointernalprogramsaswellastoindividualcustomerrequirement.AlltestsareperformedorsupervisedbyexperiencedHisiliconemployeesusingfacilitiesthatareapprovedandauditedbyHisiliconforcompliancetotherequirementsofJEDECandMIL-STD-883.
1、Definition
PreconditioningTesting(
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