【英语版】国际标准 IEC TS 62607-4-7:2018 EN 纳米制造-关键控制特性-第4-7部分：纳米能源储存-电感耦合等离子体光谱法确定电极纳米材料中的磁性杂质 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 4-7: Nano-enabled electrical energy storage - Determination of magnetic impurities in anode nanomaterials, I.pdf

IECTS62607-4-7:2018ENNanomanufacturing-Keycontrolcharacteristics-Part4-7:Nano-enabledelectricalenergystorage-Determinationofmagneticimpuritiesinanodenanomaterials,ICP-OESmethod是一项标准化的测量方法，用于确定纳米级电极材料中的磁性杂质。

这个方法基于ICP-OES（电感耦合等离子体发射光谱）技术，这是一种常用的材料分析技术，可以同时测量多种元素。在纳米级电极材料中，磁性杂质的存在可能会影响电池的性能，因此对其检测和控制非常重要。

具体步骤如下：

1.采集样品：从纳米级电极材料中采集适量的样本。

2.溶解和制备样品：将样本溶解在适当的溶剂中，制备成溶液，以便进行后续的分析。

3.仪器准备：使用ICP-OES仪器进行校准和准备，确保分析的准确性。

4.测量：将制备好的样品溶液导入ICP-OES仪器中进行测量，分析其中的磁性杂质含量。

5.数据处理：对测量得到的数据进行必要的处理和分析，得出磁性杂质的含量。

这种方法可以提供纳米级电极材料中磁性杂质的具体含量，有助于生产过程中的质量控制和潜在问题的发现。需要注意的是，该方法需要一定的专业知识和技能，以及对ICP-OES仪器的熟练操作。