【英语版】国际标准 IEC TS 62607-6-7:2023 EN 纳米制造-关键控制特性-第6-7部分：石墨烯-片电阻：范德堡方法 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-7: Graphene - Sheet resistance: van der Pauw method.pdf

IECTS62607-6-7:2023ENNanomanufacturing-Keycontrolcharacteristics-Part6-7:Graphene-Sheetresistance:vanderPauwmethod是国际电工委员会（IEC）发布的一项标准，专门针对石墨烯材料的控制特性进行规定。该标准涵盖了石墨烯片材电阻的测量方法，其中主要使用的是vanderPauw方法。

具体来说，IECTS62607-6-7标准规定了用于测量石墨烯片材电阻的vanderPauw方法的详细操作过程，包括准备样品、测量设备的校准、测量步骤、数据处理和分析等。这种方法是一种具有高精度和可靠性的技术，用于评估石墨烯片材的质量和性能。

标准中还详细说明了测量石墨烯片材电阻时的关键控制特性，包括样品制备、测量环境、测量时间、温度控制等。这些控制特性的实施将有助于确保测量的准确性和重复性，从而为石墨烯材料的质量控制和性能评估提供可靠的依据。

IECTS62607-6-7:2023ENNanomanufacturing-Keycontrolcharacteristics-Part6-7:Graphene-Sheetresistance:vanderPauwmethod标准为石墨烯材料的生产和质量控制提供了重要的指导，有助于推动石墨烯材料在各个领域的应用和发展。