《原子力显微镜下》课件.pptxVIP

《原子力显微镜下》课件简介本课件将深入探讨原子力显微镜的发展历程、工作原理和主要构造。我们将了解其扫描探针技术,并详细介绍不同的工作模式。课程还将探讨原子力显微镜在材料科学、生物医学和纳米技术等领域的广泛应用,并分析其优势和局限性。最后我们将展望原子力显微镜的未来发展趋势。T1byTAOBAO18K工作室

原子力显微镜的发展历程11980年代原子力显微镜问世21990年代广泛应用于表面分析32000年代技术持续进步,拓展新应用领域原子力显微镜于1986年由IBM公司的Binnig和Quate发明,开创了扫描探针显微技术的新纪元。随后的十年里,它逐步被应用于材料科学、生物医学等领域,成为重要的表面分析工具。进入21世纪以来,原子力显微镜的性能不断提升,在纳米尺度研究、高分辨率成像等方面发挥了关键作用。

原子力显微镜的原理探针接近样品原子力显微镜利用一支微小的探针来感知样品表面的微小力。当探针靠近样品时,会产生相互作用力。探针受力偏转这些相互作用力会使探针发生偏转,偏转量与样品表面形状和性质有关。光学检测偏转利用激光反射原理,可以精确测量探针的微小偏转,从而获取样品表面的高度信息。

原子力显微镜的主要构造1探针原子力显微镜的核心部件是一根微小的尖锐探针,能感知样品表面的微小力。探针通常由硅或硅氮化物制成,前端尖端直径仅几纳米。2探针扫描装置探针安装在柔性悬臂上,并能通过精密的压电陶瓷扫描装置对样品表面进行二维扫描。扫描过程由计算机控制和监测。3检测系统激光束反射在探针背面,被四分探测器捕捉。探针的微小偏转导致反射光路的变化,从而精确测量出表面起伏信息。

扫描探针技术1针尖扫描探针尖端在样品表面进行二维扫描2探针偏转探针受到表面力的作用而发生微小偏转3光电检测利用激光反射原理精确测量探针偏转4数字重构通过计算机处理得到样品表面三维信息扫描探针技术是原子力显微镜的核心所在。它利用一支微小的探针尖端在样品表面进行二维扫描,探针在表面力的作用下发生微小偏转。通过激光反射检测这种偏转,计算机可以重构出样品表面的三维拓扑图像。这种精密的扫描和检测技术使原子力显微镜能够实现高达原子级别的分辨率。

扫描隧道显微镜隧道效应利用量子隧道效应,扫描隧道显微镜能够检测原子尺度的表面形貌。扫描探针扫描探针在样品表面以微米级的分辨率进行逐点扫描。电子隧穿电流探针与样品之间的隧穿电流强度与间距呈指数关系,可精确测量表面起伏。

原子力显微镜的工作模式1接触模式探针与样品表面直接接触2非接触模式探针悬浮于样品表面之上3间歇接触模式探针周期性地轻触样品表面原子力显微镜通常有三种工作模式:接触模式、非接触模式和间歇接触模式。在接触模式下,探针会直接接触样品表面。非接触模式下,探针以微米级距离悬浮于样品表面之上。而间歇接触模式则是探针周期性地轻触样品表面。不同模式适用于不同类型的样品和研究需求。

接触模式在接触模式下,原子力显微探针直接接触样品表面。探针受到样品表面原子间相互作用力的影响,产生微小偏转。这种偏转量与样品表面的高度起伏和性质有关,通过精确测量探针的偏转可以重建出样品表面的三维拓扑图像。接触模式具有较高的分辨率,能够精细观察样品表面的微观结构。但同时也存在一些局限性,比如可能会对脆弱的样品造成损坏,并且需要精密控制探针与样品间的接触力。因此,在某些应用中需要采用其他工作模式。

非接触模式在非接触模式下,原子力显微探针与样品表面之间保持微米级的距离。探针悬浮在样品表面之上,并不直接接触。由于探针不与样品发生直接接触,这种工作模式能够避免对脆弱样品造成损坏。非接触模式下,探针会感受到样品表面引起的范德华力和静电力等微弱的长程相互作用力。这些相互作用力会导致探针发生微小振荡,通过精确测量振荡频率和振幅的变化,可以重建出样品表面的三维拓扑图像。

间歇接触模式间歇接触模式是原子力显微镜的另一种常见工作模式。在这种模式下,探针会周期性地轻触样品表面,而不是一直保持接触或悬浮。探针在接触和脱离样品表面之间来回振动,以微小的力量与样品表面产生相互作用。通过检测探针在接触和振动过程中的频率和振幅变化,计算机可以重建出样品表面的三维拓扑图像。这种工作模式结合了接触模式的高分辨率和非接触模式的无损性,适用于研究脆弱或松软的样品。同时,它也能最大限度地降低探针对样品的损坏。

原子力显微镜的应用领域1材料科学研究材料表面形貌、组成、结构等2生物医学观察生物细胞与分子的微观结构3纳米技术制造和表征纳米级别的器件和材料原子力显微镜凭借其高分辨率和多种工作模式,广泛应用于材料科学、生物医学和纳米技术等领域。在材料表面形貌和性质分析、生物细胞微观结构表征以及纳米器件制造和表征等方面发挥着重要作用。其先进的成像技术使其成为这些领域不可或缺的重要工具。

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