【英语版】国际标准 ISO 10810:2019 EN 表面化学分析 X 射线光电子能谱 分析指南 Surface chemical analysis — X-ray photoelectron spectroscopy — Guidelines for analysis.pdf

ISO10810:2019ENSurfacechemicalanalysis—X-rayphotoelectronspectroscopy—Guidelinesforanalysis是一个针对X射线光电子能谱分析的标准。该标准为从事表面化学分析的工程师和技术人员提供了指导，特别是针对X射线光电子能谱分析提供了指南和建议。以下是对该标准的详细解释：

一、主要内容

ISO10810:2019EN提供了关于表面化学分析过程中使用的X-射线光电子能谱仪（XPS）的实用指南和分析方法。它涵盖了仪器选择、样品准备、实验设置、数据收集和分析解读等方面。

二、主要特点

1.提供了关于如何选择和使用XPS仪器的实用指南，包括设备的性能参数、最佳工作条件和校准方法。

2.详细阐述了样品的准备过程，包括样品表面处理、表面准备和测量条件（如束斑大小、测量范围和分辨率）的选择。

3.强调了实验设置的重要性，包括背景校正、电荷效应和元素间干扰的解决方法。

4.提供了一套通用的数据收集和分析方法，包括最佳测量策略（如扫描模式、测量重复性和解析度的选择）、数据处理和分析技术（如元素解析、峰值识别和强度计算）。

5.对各种常见问题和挑战（如数据噪音、峰位漂移、重叠峰的识别和处理等）提供了解决方法和建议。

三、应用范围

该标准适用于各种材料（如金属、合金、无机化合物、高分子材料等）的表面化学分析，特别是用于确定表面元素的组成、化学态和含量。

ISO10810:2019EN为XPS分析提供了全面的指南，帮助工程师和技术人员更有效地进行表面化学分析，获得更准确的结果。