【英语版】国际标准 ISO 13095:2014 EN 表面化学分析 原子力显微镜 用于纳米结构测量的原子力显微镜探针柄轮廓的现场表征程序 Surface Chemical Analysis — Atomic force microscopy — Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement.pdf

ISO13095:2014ENSurfaceChemicalAnalysis—Atomicforcemicroscopy—ProcedureforinsitucharacterizationofAFMprobeshankprofileusedfornanostructuremeasurement是国际标准化组织（ISO）发布的一项标准，专门用于表面化学分析中的原子力显微镜（AFM）探针杆轮廓的实时代特征分析。

AFM是一种纳米级的微观测量技术，通过与样品表面相互作用产生的力场来观察和测量样品的微观结构。AFM探针杆是连接探针和显微镜系统的部分，其形状和表面粗糙度对测量结果有重要影响。因此，对AFM探针杆轮廓的准确测量和分析对于理解AFM的测量行为和优化探针性能至关重要。

ISO13095:2014标准详细描述了用于实时代特征分析AFM探针杆轮廓的程序和方法。这个程序涉及到在样品表面上放置一个带有预校准过的AFM探针，然后在原子力显微镜上进行扫描操作。在这个过程中，使用特殊设计的原子力显微镜探针杆轮廓分析技术来测量和分析探针杆的形状和表面粗糙度。通过这个程序，可以获取AFM探针杆在纳米级上的实际轮廓信息，包括各种形状和粗糙度的细节，这些信息对于理解AFM测量行为和优化探针性能具有重要意义。

ISO13095:2014标准提供了一种详细的方法和程序，用于实时代分析AFM探针杆轮廓，这对于理解纳米级测量行为和优化探针性能至关重要。