GB∕T 17360-2020 微束分析 钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法.docxVIP

ICS71.040.99;77.040.30N33

中华人民共和国国家标准

GB／T17360—2020代替GB/T17360—2008

微束分析钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法

Microbeamanalysis—Methodofquantitativedeterminationforlowcontentsofsiliconandmanganeseinsteelsusingelectronprobemicroanalyzer

2020-06-02发布2021-04-01实施

国家市场监督管理总局国家标准化管理委员会

发布

GB／T17360—2020

目次

前言 Ⅰ

引言 Ⅱ

1范围 1

2规范性引用文件 1

3术语和定义 1

4基本原理 2

5仪器与辅助设备 2

6参考物质 2

7试样制备 2

8试验条件 2

9建立校准曲线 3

10测量待测试样 6

11测量不确定度 6

12检测报告 6

附录A（资料性附录）用校准曲线法测定钢中锰含量及不确定度评定示例 8

附录B（资料性附录）用校准曲线法测定钢中锰含量的检测报告格式示例 10

参考文献 11

Ⅰ

GB／T17360—2020

前言

本标准按照GB/T1.1—2009给出的规则起草。

本标准代替GB/T17360—2008《钢中低含量Si、Mn的电子探针定量分析方法》。与GB/T17360—2008相比，除编辑性修改外主要技术变化如下：

—修改了相关术语的名称，“标定曲线法”修改为“校准曲线法”，“波高分析器”修改为“脉冲高度分析器”，等等；

—修改了本标准的适用范围；—修改了“校准曲线示意图”；

—修改了校准曲线相关系数R的要求，由“0.98≤R≤1.00”改为“R≥0.99”;

—删除了原标准第9章“测量误差”的内容；—增加了测量不确定度评定的内容；

—删除了原标准中“附录A”的内容。

本标准由全国微束分析标准化技术委员会(SAC/TC38)提出并归口。本标准起草单位：中国科学院金属研究所。

Ⅱ

GB／T17360—2020

引言

硅、锰是钢中常见的合金元素，在电子探针分析中常常遇到要对钢中的硅、锰进行定量分析的问题；但是用电子探针测定钢中低含量的硅和锰时，不宜采用常规基体校正分析方法，原因如下：

—铁对硅Kα线的质量吸收系数约是硅的自吸收的7倍[1],再加上铁作为基体含量远高于硅，这会导致采用基体校正计算时硅的吸收修正量大；而修正量越大，定量分析的准确度就越差。

—对锰而言，铁Kβ线的波长(0.1757nm)略小于锰的K吸收边(0.1896nm)[2],铁Kβ线可以引起锰元素的荧光Kα线；通常K系谱线中β线比较弱(Kβ与Kα的强度之比约为1∶9[3]),荧光修正模型往往不考虑β线的影响[3];然而这里由于铁与锰含量的对比悬殊，铁Kβ线引起的荧光增强效应不可忽略。

针对以上问题，将校准曲线法应用于钢中低含量硅、锰的定量分析是合适的解决方案。本次修订进一步规范了测量过程中的关键环节，有助于提高分析的准确度。

1

GB／T17360—2020

微束分析钢中低含量硅、锰的电子探针定量分析方法

1范围

本标准规定了用电子探针测定碳钢和低合金钢（铁质量分数大于95%)中硅、锰含量的校准曲线法。

本标准适用于电子探针波谱仪，不适用于能谱仪。带波谱仪的扫描电镜可以参照使用。

2规范性引用文件

下列文件对于本文件的应用是必不可少的。凡是注日期的引用文件，仅注日期的版本适用于本文件。凡是不注日期的引用文件，其最新版本（包括所有的修改单）适用于本文件。

GB/T4930微束分析电子探针分析标准样品技术条件导则

GB/T13298金属显微组织检验方法

GB/T15074电子探针定量分析方法通则

GB/T152