【英语版】国际标准 ISO 18115-2:2021 EN 表面化学分析 词汇表 第2部分：扫描探针显微镜使用的术语 Surface chemical analysis — Vocabulary — Part 2: Terms used in scanning-probe microscopy.pdf

ISO18115-2:2021EN表面化学分析—词汇—第2部分：扫描探针显微镜中使用的术语

ISO18115系列标准是一套关于表面化学分析的国际标准，其重点在于对材料表面性质的研究和描述。这个部分是专门针对扫描探针显微镜（SPM）中的术语进行解释和定义。

以下是对ISO18115-2:2021EN中关于扫描探针显微镜中使用的术语的详细解释：

1.**扫描探针显微镜**：这是一种精密仪器，利用一个或多个微小且可移动的探针在样品表面进行扫描，以获取样品表面的微观结构信息。

2.**原子力显微镜（AFM）**：这是一种常见的扫描探针显微镜类型，通过测量探针与样品表面之间的相互作用力（通常是静电力）来获取高度和形貌信息。

3.**悬置力显微镜**：这是一种特殊的扫描探针显微镜，通过测量探针与样品表面之间的微弱相互作用力（如磁力或静电力）来获取材料表面的化学和物理性质。

4.**原子力光谱显微镜**：这是一种结合了原子力显微镜和光谱分析的扫描探针显微镜，它可以直接测量并识别材料表面的化学元素或化学键。

5.**磁力显微镜**：这是一种使用磁场在样品表面扫描的仪器，它可以用来观察和研究材料的磁学和表面化学性质。

6.**电子力显微镜**：这是另一种类型的扫描探针显微镜，通常使用电子束扫描样品表面并获取电荷响应来揭示材料的化学性质。

7.**纳米操纵**：扫描探针显微镜的一个主要应用是纳米操纵，它允许科学家对材料表面上的单个原子或分子进行操作。

8.**表面形貌**：这是扫描探针显微镜的一个重要指标，它描述了样品表面在不同高度上的分布。

9.**表面粗糙度**：这是指样品表面的不规则程度，通常用粗糙度的测量单位（如纳米或埃）来表示。

以上是对ISO18115-2:2021EN中关于扫描探针显微镜中使用的术语的详细解释。这些术语对于理解表面化学分析的过程和结果非常重要，因为它可以帮助科学家们更准确地描述和理解材料表面的性质。