【英语版】国际标准 ISO 21222:2020 EN 表面化学分析 扫描探针显微镜 使用原子力显微镜和两点 JKR 法测定顺从材料弹性模量的程序 Surface chemical analysis — Scanning probe microscopy — Procedure for the determination of elastic moduli for compliant materials using atomic force microscope and the two-poin.pdf

ISO21222:2020标准规定了表面化学分析中扫描探针显微镜（SPM）使用原子力显微镜（AFM）和两点JKR方法来测定可变形材料弹性模量的程序。这个标准为如何使用扫描探针显微镜来分析材料的化学性质提供了详细的指导。它涵盖了如何选择和准备样品，如何设置和操作仪器，以及如何分析和解释结果。该标准特别关注于弹性模量的测定，这对于理解材料的力学性质和化学组成是非常重要的。对于使用原子力显微镜和两点JKR方法来测定可变形材料的弹性模量，这个标准提供了一种精确且可靠的方法。这种方法通过测量材料在两个固定距离间的恢复力，进而得出弹性模量。该标准的实施有助于提高表面化学分析的准确性和一致性，有助于科学研究和工业应用的发展。在遵循该标准的前提下，科学家和工程师可以更好地理解和控制材料的化学和机械性质。

这个标准的目的是为扫描探针显微镜的用户提供一个清晰、详细的方法指南，以便他们能够准确地测定材料的弹性模量。它提供了一种可靠的方法，可用于评估材料的质量、性能和稳定性。通过遵循这个标准，用户可以获得更准确、更可靠的实验结果，从而有助于他们在科学研究、工业应用和质量控制等领域取得更大的进展。

弹性模量是材料在应力作用下变形的能力，它描述了材料在受到压力时的反应。通过测量弹性模量，可以了解材料的强度、柔韧性以及与其他物质的相互作用。在许多应用中，如材料科学、生物医学工程、微纳制造等，准确测定材料的弹性模量至关重要。