【英语版】国际标准 ISO 22489:2016 EN 微束分析 电子探针显微分析 使用波长色散 X 射线光谱对块状试样进行定量点分析 Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy.pdf

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【英语版】国际标准 ISO 22489:2016 EN 微束分析 电子探针显微分析 使用波长色散 X 射线光谱对块状试样进行定量点分析 Microbeam analysis — Electron probe microanalysis — Quantitative point analysis for bulk specimens using wavelength dispersive X-ray spectroscopy.pdf

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ISO22489:2016标准主要涉及到微观分析中的电子探针显微分析技术,具体涉及到定量点分析,也就是利用波长分离X射线光谱对块状样品进行定量分析。这个标准为使用波长分离X射线光谱进行定量点分析提供了详细的指南和要求,包括实验设计、样品准备、仪器操作、数据分析和结果解释等方面。这个标准的主要目的是提供一种可靠和准确的方法,用于对材料进行微观结构和化学成分的定量分析。电子探针显微分析是一种高灵敏度、高分辨率的分析技术,广泛应用于材料科学、化学、生物学、矿物学等领域。

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