【英语版】国际标准 ISO 22493:2014 EN 微束分析 扫描电子显微镜 词汇表 Microbeam analysis — Scanning electron microscopy — Vocabulary.pdf

ISO22493:2014ENMicrobeamanalysis—Scanningelectronmicroscopy—Vocabulary标准的内容解释如下：

微束分析，特别是扫描电子显微镜（SEM）的术语集。该标准定义了在进行微束分析时使用的术语和缩略语，以便于在各个领域进行交流和理解。

以下是标准中提到的具体术语和它们的详细解释：

*微束分析：使用微小束电子对样品进行扫描，以观察和分析其微观结构的过程。

*扫描电子显微镜：一种电子显微镜，用于观察和分析固体和液体样品表面的微观结构。它使用电子束扫描样品表面，并收集反射或透射的电子来生成图像。

*样品：被分析的物体或材料。

*电子束：由电子枪发射的微小束，用于扫描样品表面。

*扫描：电子束在样品表面上的移动过程。

*反射：当电子与样品相互作用时，一部分电子被反射回扫描电子显微镜，形成图像。

*透射：当电子穿过样品时，它们穿过特定区域的数量会发生变化，这些区域称为衍射或透射峰。透射电子图像可用于研究晶格结构和材料的其他特性。

*样本库：一个集合术语，用于描述扫描电子显微镜图像存储和检索的系统或数据库。

*元件层：扫描电子显微镜中成像的微观结构的单个元素层。

*微观结构：材料或物体的结构，可以通过电子显微镜观察到，包括晶体结构、颗粒大小、纹理等。

*图像处理：对扫描电子显微镜图像进行数字处理和分析的过程，包括增强、对比度调整、图像分割等。

以上是ISO22493:2014ENMicrobeamanalysis—Scanningelectronmicroscopy—Vocabulary标准中涉及的所有术语和缩略语的详细解释。这些术语和缩略语对于理解和使用扫描电子显微镜进行微束分析非常重要。