【英语版】国际标准 ISO 23729:2022 EN 表面化学分析 原子力显微镜 因探针尺寸有限而放大的原子力显微镜图像修复程序指南 Surface chemical analysis — Atomic force microscopy — Guideline for restoration procedure for atomic force microscopy images dilated by finite probe size.pdf

ISO23729:2022ENSurfacechemicalanalysis—Atomicforcemicroscopy—Guidelineforrestorationprocedureforatomicforcemicroscopyimagesdilatedbyfiniteprobesize是一个国际标准，它提供了关于如何恢复由有限探针大小引起的原子力显微镜图像的详细指南。

我们需要了解什么是原子力显微镜（AtomicForceMicroscopy，简称AFM）。AFM是一种用于测量和表征纳米级表面形貌的技术，它通过与样品表面相互作用产生的力来工作。AFM图像的恢复是一个重要的过程，因为它可以帮助我们更好地理解图像的质量和准确性。

ISO23729标准详细说明了恢复原子力显微镜图像的步骤，这些步骤包括：

1.**选择适当的恢复算法**：根据AFM图像的特点和问题，选择适当的算法进行恢复。这可能包括滤波、去噪、插值等步骤。

2.**处理图像数据**：在恢复之前，需要处理原始的AFM图像数据。这可能包括调整图像大小、转换数据格式等步骤。

3.**应用恢复算法**：将恢复算法应用于处理后的图像数据，以消除由于有限探针大小引起的变形和失真。

4.**评估和调整**：评估恢复后的图像质量，并根据需要进行调整。这可能包括微调恢复算法的参数、优化滤波器设置等步骤。

5.**输出结果**：最后，输出恢复后的高质量AFM图像，以便进一步的分析和研究。

ISO23729标准为恢复原子力显微镜图像提供了详细的指南和步骤，帮助用户更好地理解和处理AFM图像，从而提高分析的准确性和可靠性。