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测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求第21部分:特殊
要求无电磁兼容防护场合用敏感性试验和测量设备的试验配置、工
作条件和性能判据
1范围
除了GB/T18268.1的要求外,GB/T18268的本部分规定了更详细的具有试验和测量电路(设备的内
部和(或)外部电路)的设备的试验配置、工作条件和性能判据。按制造商的规定,这些设备因操作和
(或)功能上的原因而没有电磁兼容防护。
制造商应规定设备的预定使用环境,并从GB/T18268.1—20XX中选择适用的试验等级。
注:此类设备包括但不限于示波器、逻辑分析仪、频谱分析仪、网络分析仪、模拟仪表、数字万用表和电路板测试
系统。
2规范性引用文件
下列文件中的内容通过文中的规范性引用而构成本文件必不可少的条款。其中,注日期的引用文件,
仅该日期对应的版本适用于本文件;不注日期的引用文件,其最新版本(包括所有的修改单)适用于本文
件。
除下述内容外,GB/T18268.1—20××的第2章的规范性引用文件适用于本文件。
增补:
GB/T18268.1—20××测量、控制和实验室用的电设备电磁兼容性要求第1部分:通用要求(IEC
61326-1:2020,IDT)
IEC60050-161InternationalElectrotechnicalVocabulary(IEV)-Part161:Electromagnetic
compatibility
注:GB/T4365-2003电工术语电磁兼容[IEC60050(161):1990,IDT]
3术语和定义
GB/T18268.1—20××和GB/T4365确立的术语和定义适用于本文件。
ISO和IEC在下列网址设有标准化术语数据库:
——IEC电子百科:/
——ISO在线浏览平台:/obp
4通则
GB/T18268.1—20××的第4章适用于本文件。
1
5电磁兼容试验方案
5.1通则
GB/T18268.1—20××的5.1适用于本部分。
5.2试验时受试设备的配置
除下述内容外,GB/T18268.1—20××的5.2适用于本部分。
增补:
01试验和测量用的I/O端口
试验和测量(T和M)输入端口应封口并端接适当的阻抗,除非这会导致工作条件不适合于测量受
试设备的发射和抗扰度性能。如果需要输入信号,应使用制造商指定的测试引线或探头施加一个合适的
输入信号。
评定受试设备的基本功能时不需要的试验和测量输出端口应封口和(或)端接负载。
静电放电应施加在配对连接器或未配对端口的屏蔽上,但不得施加在屏蔽端口或电缆连接器的内部
插脚上。
示例包括但不限于:USB、BNC、D-超小型、GPIB、RS232和IEEE1284-B(并行打印机端口)等。
注1:试验期间不用于向试验和测量端口施加输入信号的探头和(或)测试引线不需要连接。测试引线在不同的应
用场合可能会有很大的不同,常常连接到外壳被移除的设备,并且在不同的拆卸阶段提供进入内部测量点的
通路。在特定的应用中,连接的测试引线可能会增加发射和(或)降低抗扰度性能。
注2:封口是指用屏蔽物进行局部包封。
5.3试验时受试设备的工作条件
除下述内容外,GB/T18268.1—20××的5.3适用于本部分。
增补:
5.3.101工作条件
当电池和电源都可用时,两种工作状态都应符合要求。
5.3.102示波器
示波器端口应设定为最大扫描速率、最大灵敏度和连续采集模式,除非已知其它模式在正常应用中
产生最不利的发射和抗扰度结果。
5.3.103逻辑分析仪
逻辑分析仪在发射试验时应设定成数据分析模式,在抗扰度试验时应设定成连续数据采集模式,除
非已知其它模式在正常应用中产生最不利的发射和抗扰度结果。
5.3.104数字万用表(DMM)
典型配置包括:峰值检波、最大灵敏度(如果有自动选择量程功能,通常就可设定在自动状态)和
连续采集模式。
5.3.105其它设备
对于5.3.102至5.3
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