【英语版】国际标准 IEC TS 62607-6-19:2021 EN 纳米制造-关键控制特性-第6-19部分：基于石墨的材料-元素组成：CS分析仪，ONH分析仪 Nanomanufacturing - Key control characteristics - Part 6-19: Graphene-based material - Elemental composition: CS analyser, ONH analyser.pdf

IECTS62607-6-19:2021ENNanomanufacturing-Keycontrolcharacteristics-Part6-19:Graphene-basedmaterial-Elementalcomposition:CSanalyser,ONHanalyser是国际电工委员会（IEC）发布的一项标准，专门针对纳米制造中的关键控制特性。这个标准主要关注基于石墨烯的材料元素组成。

CS分析仪和ONH分析仪是两种常用的分析仪器，用于测量纳米材料中的元素组成。

CS分析仪（CamecaSX50/60等）是一种高分辨率能量散射光谱仪（EDS），可以提供纳米材料的高分辨率元素成像和分布信息。它可以在SEM（扫描电子显微镜）的背景下工作，对样品进行微区分析，从而获得纳米尺度下的元素分布和化学键合等信息。

ONH分析仪（OpticalNeutralElement(ODE)Analyzer）则是一种基于光学的方法，用于测量纳米颗粒的元素组成。它通过测量纳米颗粒的反射光谱和吸收光谱，并结合纳米颗粒的尺寸和形状信息，来确定其元素组成。这种方法通常用于测量表面处理后的纳米颗粒，如石墨烯材料。

这些分析方法对于控制和保证石墨烯材料的品质和性能非常重要。通过定期测量和分析，可以确保石墨烯材料的元素组成符合预期，从而保证其性能和稳定性。同时，这些测量和分析方法也是石墨烯材料生产和应用过程中的关键质量控制点。