【英语版】国际标准 ISO 11562:1996 EN 产品几何规范 (GPS) 表面纹理：轮廓法 相位校正滤波器的计量特性 Geometrical Product Specifications (GPS) — Surface texture: Profile method — Metrological characteristics of phase correct filters.pdf

ISO11562:1996EN几何产品规范（GPS）—表面粗糙度：轮廓法—相位校正滤波器的计量特性是国际标准组织ISO于1996年发布的一项关于表面粗糙度的标准。它规定了使用相位校正滤波器进行表面粗糙度测量时所需遵循的几何和测量规范。此标准的主要目的是提供一种用于测量表面粗糙度的方法和标准，以确保产品质量的准确性和一致性。在轮廓法中，相位校正滤波器被广泛应用于对表面粗糙度的测量。其特点包括测量范围广、测量精度高、抗干扰能力强等优点。此标准还规定了用于测量表面粗糙度的仪器和设备的性能要求、校准方法以及数据处理方法等。因此，ISO11562:1996EN标准对于保证表面粗糙度测量的准确性和可靠性具有重要意义。

以上是对ISO11562:1996EN标准的详细解释，希望能够帮助到您。