【英语版】国际标准 ISO 25498:2010 EN 微束分析 分析电子显微镜 使用透射电子显微镜进行选区电子衍射分析 Microbeam analysis — Analytical electron microscopy — Selected-area electron diffraction analysis using a transmission electron microscope.pdf

ISO25498:2010标准，也称为《微束分析——透射电子显微镜——使用传输电子显微镜进行选区电子衍射分析》标准，主要涉及电子显微镜（包括微束分析）的详细操作和分析技术。这个标准详细介绍了使用传输电子显微镜进行选区电子衍射分析的过程，包括实验准备、样品制备、电子显微镜操作、数据收集和分析等步骤。这个标准对于电子显微镜的研究和应用具有重要指导意义。

在进行选区电子衍射分析时，首先需要选择要分析的电子衍射区域，通常使用电子显微镜中的选区电子衍射（SAED）技术进行选择。然后，使用透射电子显微镜对样品进行观察和成像，收集和分析SAED图像数据。根据这些数据，可以确定样品的晶体结构和晶体学信息，从而进一步了解样品的微观结构和化学组成。这个标准详细介绍了各种操作步骤和技术细节，如如何制备样品、如何选择衍射区域、如何操作电子显微镜等。这个标准还提供了一些实用建议和注意事项，以确保实验的准确性和可靠性。

ISO25498:2010标准是一个非常重要的电子显微镜分析标准，对于从事电子显微镜研究、材料科学、化学、生物学等领域的研究人员来说非常重要。