嵌入式软件工程师-嵌入式系统调试与测试-JTAG调试_JTAG指令集详解.docxVIP

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JTAG调试基础

1JTAG接口介绍

JTAG（JointTestActionGroup）接口是一种国际标准测试协议，主要用于芯片的测试和调试。它通过一个边界扫描链路（BoundaryScanChain）来访问芯片内部的测试访问端口（TestAccessPort,TAP），从而实现对芯片内部电路的测试和调试。JTAG接口通常包含以下四个主要信号：

TCK（TestClock）：测试时钟信号，用于同步JTAG操作。

TMS（TestModeSelect）：测试模式选择信号，用于控制状态机的模式。

TDI（TestDataInput）：测试数据输入信号，用于向边界扫描链路输入数据。

TDO（TestDataOutput）：测试数据输出信号，用于从边界扫描链路读取数据。

此外，JTAG接口还可能包含一个TRST（TestReset）信号，用于复位芯片。

2JTAG调试原理

JTAG调试原理基于边界扫描技术，通过JTAG接口可以访问芯片内部的TAP控制器。TAP控制器是一个状态机，它有多个状态，包括：

测试逻辑复位（Test-Logic-Reset）：复位状态，所有寄存器被复位。

运行测试/空闲（Run-Test/Idle）：在TCK的控制下，TAP控制器可以运行测试模式或处于空闲状态。

选择DR扫描（Select-DR-Scan）：选择数据寄存器（DataRegister）扫描模式。

捕获DR（Capture-DR）：将TDI的数据捕获到数据寄存器中。

移位DR（Shift-DR）：在TCK的控制下，数据在数据寄存器中移位。

退出1DR（Exit1-DR）：准备进入捕获状态。

暂停DR（Pause-DR）：暂停状态，用于测试时钟的调整。

选择IR扫描（Select-IR-Scan）：选择指令寄存器（InstructionRegister）扫描模式。

捕获IR（Capture-IR）：将TDI的数据捕获到指令寄存器中。

移位IR（Shift-IR）：在TCK的控制下，数据在指令寄存器中移位。

退出1IR（Exit1-IR）：准备进入捕获状态。

暂停IR（Pause-IR）：暂停状态，用于测试时钟的调整。

通过控制TAP控制器的状态，可以实现对芯片内部寄存器的读写操作，从而进行调试和测试。

2.1示例代码

以下是一个使用Python和pylink库控制JTAG状态机的示例代码：

importpylink

#初始化J-Link

jlink=pylink.JLink()

jlink.open()

#设置JTAG速度

jlink.set_tif(pylink.enums.JLinkInterfaces.JTAG)

jlink.set_speed(1000)

#进入测试逻辑复位状态

jlink.tif_select(pylink.enums.JLinkInterfaces.JTAG)

jlink.tms(0)

jlink.tck(1)

jlink.tms(1)

jlink.tck(1)

jlink.tms(0)

jlink.tck(1)

#进入运行测试/空闲状态

jlink.tms(0)

jlink.tck(1)

#进入选择DR扫描状态

jlink.tms(1)

jlink.tck(1)

jlink.tms(0)

jlink.tck(1)

#进行数据寄存器的移位操作

data=0foriinrange(32):

jlink.tdi(data0x01)

data=1

jlink.tck(1)

jlink.tck(0)

#退出1DR状态

jlink.tms(1)

jlink.tck(1)

jlink.tms(1)

jlink.tck(1)

jlink.tms(0)

jlink.tck(1)

#关闭J-Link

jlink.close()

2.2代码解释

这段代码使用了pylink库来控制J-Link设备，从而实现对JTAG状态机的控制。首先，初始化J-Link设备并设置JTAG接口的速度。然后，通过控制TMS和TCK信号，使JTAG状态机进入不同的状态。在选择DR扫描状态中，通过TCK和TDI信号，将数据移位到数据寄存器中。最后，通过控制TMS和TCK信号，使JTAG状态机退出DR扫描状态。

3JTAG在芯片设计中的作用

JTAG在芯片设计中主要起到以下作用：

测试和调试：通过JTAG接口，可以访问芯片内部的寄存器和电路，从而实现对芯片的测试和调试。

故障诊断：当芯片出现故障时，可以通过JTAG接口读取芯片内部的状态，从而进行故障诊断。

编程和配置：在