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《GB/T43087-2023微束分析分析电子显微术层状材料截面像中界面位置的确定方法》最新解读;目录;目录;目录;目录;目录;目录;PART;;TEM与SEM的区别与应用
透射电子显微镜主要用于观察材料的超微结构，如晶体缺陷、位错、相界等；而扫描电子显微镜则侧重于样品的表面形貌和成分分析。两者在微束分析领域各具特色，互补性强，共同推动了材料科学等领域的发展。
微束分析在材料科学中的重要性
微束分析技术能够实现对材料微观结构的精确表征，为材料性能的优化和新型材料的开发提供了科学依据。在层状材料的研究中，微束分析技术更是发挥了关键作用，帮助科学家们深入理解层状材料的界面行为、层
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