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摘要
电阻抗成像(ElectricalImpedanceTomography,EIT)是一种非侵入式的功
能成像方法。它通过向被测场域注入电流获得场域信息,从而重建出场域内部
的电导率分布图像。最近,三维EIT因能更加真实地反应场域电特性而被广泛
研究,为了克服其局限性并缓解不适定性,提高三维EIT的成像精度,本文从
以下三个方面对三维EIT展开研究:
首先,提出了一种三维EIT的背电极激励测量(BackElectrodeExcitation
Measurement,BE
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